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박상호(Sangho Park),정영상(Young Sang Jung),송준엽(Jun Yeob Song),이승우(Seung Woo Lee),김동훈(Dong Hoon Kim),이수훈(Soo Hoon Lee),박종권(Jong Kweon Park) 한국생산제조학회 2005 한국생산제조시스템학회 학술발표대회 논문집 Vol.2005 No.5
Existing manufacturing system has consumed too much energy, space and resource in micro parts manufacturing. To improve this, micro factory system is suggested. But it is difficult to get the high reliability in the assembly, production and inspection of the minute parts because the construction of the micro factory has been started just before. In this study, we will build the digital manufacturing simulation on the micro factory's process and verify the production and assembly process using this simulation.
Analysis of forces on a charged micron-sized particle between two parallel-plate electrodes
Seungtaek Kim(김승택),Sangho Lee(이상호),Yong-Kweon Kim(김용권) 대한전기학회 2009 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2009 No.7
This paper investigates forces on a charged particle used in the e-paper application. The particles were inserted into the pixels and according to the applied voltage, particles moves up or down to the electrodes. So, to design the e-paper, the force analysis is very important for the stable operation of e-paper. For these purposes, we divided forces into 4 different forces and numerically evaluated each force. From the simulation results, we confirmed that the minimum voltage to detach the particle from the bottom electrode can be obtained for the given condition.
전자 종이 응용을 위한 비젼 시스템의 심도를 이용한 마이크로입자 카운팅 방법
김승택(Seungtaek Kim),김형태(Hyungtae Kim),이상호(Sangho Lee),김종석(Jongseok Kim),김용권(Yong-Kweon Kim) 대한전기학회 2010 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2010 No.7
본고는 비젼 시스템에서 피사계 심도(depth of field)를 이용하여 전자 종이 같은 응용분야에 이용되는 마이크로 입자 카운팅 방법에 관한 것이다. 실험에서 평균 직경 10㎛의 마이크로 입자를 두 투명전극 사이에 스페이서(직경:125㎛)로 형성된 공간에 넣어 샘플을 제작하고, 샘플에 전계를 인가하여 입자를 상하판 사이에 위치하도록 하였다. 이 샘플 상단면에서 비젼 시스템을 통해 얻은 원본 이미지를 이미지 히스토그램과 임계치 Thresholding 함수를 이용하여 이진 이미지를 얻었다. National Instrument사 Labwindows CVI와 NI Vision Library를 이용하여 제안된 방법의 프로그램을 제작하고, 눈으로 확인할수 있는 80개의 샘플에 대해서 제작된 프로그램으로 입자 카운팅을 수행하여 카운팅에러를 확인하였다.