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김상지,윤지언,황동현,이인석,안정훈,손영국,Kim, Sang-Jih,Yoon, Ji-Eon,Hwang, Dong-Hyun,Lee, In-Seok,Ahn, Jung-Hoon,Son, Young-Guk 한국진공학회 2009 Applied Science and Convergence Technology Vol.18 No.2
rf magnetron sputtering 법을 이용하여 Pt/Ti/$SiO_2$/Si 기판 위에 buffer layer인 $TiO_2$ 층을 증착한 후 PLZT 강유전체 박막을 증착하였다. PLZT 박막 증착 시 가스 분압비가 박막의 특성에 미치는 영향을 알아보기 위해 Ar/$O_2$ 분압비를 각각 27/1.5 sccm, 23/5.5 sccm, 21/7.5 sccm, 19/9.5 sccm로 변화시키면서 박막을 증착하였다. 이들 박막의 구조적인 특성을 분석하기 위해 X-선 회절법을 사용하였으며 FE-SEM을 이용하여 입자상을 관찰하였다. 또한 박막의 유전특성을 분석하기 위해 Precision LC를 이용하여 이력곡선, 잔류분극, 누설전류를 측정하였다. 산소 분압이 높아질수록 박막의 결정성 및 치밀성이 저하되었으며, (110) 방향에서 (111) 방향으로 우선배향성이 변화하는 것을 확인하였다. 산소 분압비의 변화는 박막 표면 및 강유전 특성에 영향을 미치는 것으로 판단된다. PLZT ferroelectric thin films were deposited on Pt/Ti/$SiO_2$/Si substrate with $TiO_2$ buffer layer in between by rf magnetron sputtering method. In order to investigate the effect of Ar/$O_2$ partial pressure ratio on the ferroelectric properties of PLZT thin films, PLZT thin films were deposited at various Ar/$O_2$ partial pressure ratio ; 27/1.5 seem, 23/5.5 seem, 21/7.5 seem and 19/9.5 seem. The crystallinities of PLZT thin films were analyzed by XRD. The surface morphology was observed using FE-SEM. The P-E hysteresis loops, the remanent polarization characteristics and the leakage current characteristics were obtained using a Precision LC. The crystallinity and elaborateness of PLZT thin films were decreased as increasing the oxygen partial pressure ratio. And preferred orientation of PLZT thin films changed from (110) plane to (111) plane. The oxygen partial pressure ratio affects the thin film surface morphology and the ferroelectric properties.
B-spline을 이용한 불균일한 휘도보정 방법에 기반한 FPD 결함검출
김상지(Sang-Ji Kim),이병국(Byoung-Gook Lee),이준재(Joon-Jae Lee) 한국멀티미디어학회 2006 한국멀티미디어학회 학술발표논문집 Vol.2006 No.1
평판 디스플레이 장치(FPD)의 패널 표면은 불균일한 휘도 변화로 인해 단순 문턱값 적용으로는 정확한 결함 검출이 어렵다. 본 논문에서는 불균일한 휘도변화를 보상하기 위해 입력 영상을 B-spline 근사화 하여 고주파 잡음이 제거된 입력 영상과의 차를 이용하는 알고리즘을 제안 하였다. 특히 입력 영상 경계부분의 심한 휘도 변화를 B-spline 근사화를 이용한 휘도 보상 문제를 해결 하였고, 표준편자를 이용한 문턱값을 적용하여 결함을 찾고, 후 처리 과정으로써 결함의 정보를 나타내는 블랍 해석 처리 알고리즘을 더해서 시스템을 구현하여 성능 평가를 하였다.
김상지(Kim,Sang Ji),이희재(Lee,Hee Jae),전세희(Jeon,Se Hee),진수정(Jin,Su Jeong),김시우(Kim,Sea Woo) 한국IT서비스학회 2014 한국IT서비스학회 학술대회 논문집 Vol.2014 No.춘계
현대사회는 스마트시대라고 불릴 만큼 스마트기기의 보편화가 급속도로 이루어지고 있다. 따라서 이러한 시대에 맞추어 그에 합당한 기기들이 필요함을 느꼈다. 그중에서 N-Display projection system은 기존의 빔 프로젝터에 e-paper의 기술을 도입하여 응용한 것으로 회사나 학교, 일반 가정집에서도 사용이 가능한 제품이다. 회사에서 회의 시에 각자가 가진 태블릿PC의 정보를 간단한 터치를 통하여 e-paper에 옮김으로써 보다 간편하고 빠르게 정보공유를 할 수 있다. 또한 요즘 학교에서도 스마트수업을 함에 따라 이 기기를 이용하게 학생들이 가진 정보를 쉽게 선생님께 보여주거나, 선생님이 가진 정보를 학생들에게 빠르게 전달할 수 있다. 게다가 교육이 열악한 지역에서도 이 기기 하나만 있으면 저렴한 비용으로 스마트수업을 할 수 있어 교육의 질을 높일 수 있을 것이라고 예상한다.
김상지(Sang Ji Kim),황용현(Yong Hyeon Hwang),이병국(Byoung Gook Lee),이준재(Joon Jae Lee) 한국멀티미디어학회 2007 멀티미디어학회논문지 Vol.10 No.10
평판 디스플레이(FPD)의 결함 검출은 패널 영상의 불균일한 휘도 변화로 인해 정확한 결함 검출이 어렵다. 본 논문은 FPD 패널 영상의 휘도변화를 B-스플라인 표면으로 근사화하고, 이로부터 다양한 결함을 검출하는 방법을 제안한다. B-스플라인 표면 근사화시 잡음 및 결함에 해당하는 고주파 부분을 제외하고, 불균일 휘도 변화에 해당하는 배경부분만으로 구성하기 위해, 웨이브릿 변환 후 저주파대역만을 이용한다. 이는 B-스프라인 표면 근사화의 단점인 시간 소모를 획기적으로 줄일 뿐 아니라, 정확성을 향상시키는 결과를 가져온다. 최소의 부대역에서 근사화된 영상은 웨이브릿 합성 과정을 거쳐 원영상의 크기로 재구성되고, 원 영상에서 이를 뺀 차영상이 바로 불균일 휘도의 배경을 보상한 평평한 영상이 된다. 따라서 결과 영상에 단순 문턱치를 이용하여 결함 영역을 쉽게 검출할 수 있으며, 거짓 결함을 제거하기 위해 블랍 해석이 후처리로서 수행된다. 또한 인라인 시스템에 적용하기 위해 웨이브릿 변환을 리프팅 기반의 알고리즘으로 구현하여 필름 같은 대용량의 데이터를 고속으로 처리할 수 있게 함으로써, 처리 시간을 크게 감소 시켰다. To detect defect of FPD(flat panel displays) is very difficult due to uneven illumination on FPD panel image. This paper presents a method to detect various types of defects using the approximated image of the uneven illumination by B-spline. To construct a approximated surface, corresponding to uneven illumination background intensity, while reducing random noises and small defect signal, only the lowest smooth subband is used by wavelet decomposition, resulting in reducing the computation time of taking B-spline approximation and enhancing detection accuracy. The approximated image in lowest LL subband is expanded as the same size as original one by wavelet reconstruction, and the difference between original image and reconstructed one becomes a flat image of compensating the uneven illumination background. A simple binary thresholding is then used to separate the defective regions from the subtracted image. Finally, blob analysis as post-processing is carried out to get rid of false defects For applying in-line system, the wavelet transform by lifting based fast algorithm is implemented to deal with a huge size data such as film and the processing time is highly reduced.
김상지(Sang-Jih Kim),윤지언(Ji-Eon Yoon),황동현(Dong-Hyun Hwang),이인석(In-Seok Lee),안정훈(Jung-Hoon Ahn),손영국(Young-Guk Son) 한국진공학회(ASCT) 2009 Applied Science and Convergence Technology Vol.18 No.2
rf magnetron sputtering 법을 이용하여 Pt/Ti/SiO₂/Si 기판 위에 buffer layer인 TiO₂ 층을 증착한 후 PLZT 강유전체 박막을 증착하였다. PLZT 박막 증착 시 가스 분압비가 박막의 특성에 미치는 영향을 알아보기 위해 Ar/O₂ 분압비를 각각 27/1.5 sccm, 23/5.5 sccm, 21/7.5 sccm, 19/9.5 sccm로 변화시키면서 박막을 증착하였다. 이들 박막의 구조적인 특성을 분석하기 위해 X-선 회절법을 사용하였으며 FE-SEM을 이용하여 입자상을 관찰하였다. 또한 박막의 유전특성을 분석하기 위해 Precision LC를 이용하여 이력곡선, 잔류분극, 누설전류를 측정하였다. 산소 분압이 높아질수록 박막의 결정성 및 치밀성이 저하되었으며, (110) 방향에서 (111) 방향으로 우선배향성이 변화하는 것을 확인하였다. 산소 분압비의 변화는 박막 표면 및 강유전 특성에 영향을 미치는 것으로 판단된다. PLZT ferroelectric thin films were deposited on Pt/Ti/SiO₂/Si substrate with TiO₂ buffer layer in between by rf magnetron sputtering method. In order to investigate the effect of Ar/O₂ partial pressure ratio on the ferroelectric properties of PLZT thin films, PLZT thin films were deposited at various Ar/O₂ partial pressure ratio ; 27/1.5 sccm, 23/5.5 sccm, 21/7.5 sccm and 19/9.5 sccm. The crystallinities of PLZT thin films were analyzed by XRD. The surface morphology was observed using FE-SEM. The P-E hysteresis loops, the remanent polarization characteristics and the leakage current characteristics were obtained using a Precision LC. The crystallinity and elaborateness of PLZT thin films were decreased as increasing the oxygen partial pressure ratio. And preferred orientation of PLZT thin films changed from (110) plane to (111) plane. The oxygen partial pressure ratio affects the thin film surface morphology and the ferroelectric properties.
김상지 ( Sang Ji Kim ),진현정 ( Hyun Jeong Jin ) 한국패션디자인학회 2015 한국패션디자인학회지 Vol.15 No.2
The purpose of this study was to investigate the ambivalent consumer behavior and shopping channel selection of children``s wear consumers through the qualitative research. Thirteen mothers who had children under age 12 and lived in the Seoul Metropolitan area were interviewed. The results showed that consumers were ambivalent when buying children`` s clothing; they tended to shop both high-priced and low-priced clothing. They are likely to buy high-priced clothing when clothing are conspicuous such as outer. However, they are likely to buy low-priced clothing when clothing are inconspicuous such as underwear. This result showed that what other people thought of the appearance affected the consumer behavior and mothers thought children``s appearance was related to mothers`` social face. When buying children``s wear, younger mothers with toddlers were more ambivalent than older mothers with school-aged children. Relatively younger mothers are likely to buy children``s wear from foreign countries whereas older consumers tended to purchase in conventional shopping channels like department stores, conventional markets and discount stores. This result showed that mothers`` previous shopping experiences and their children``s age might affect the shopping channel selection. They tended to shop conspicuous clothing from department stores and inconspicuous clothing from various shopping channels such as conventional markets and discount stores. However, they also bought inconspicuous clothing from a department store. This results seems to be due to sales and events that consumers can buy clothing at the low price. This research may contribute to understanding underlying reasons why mothers are ambivalent in buying their children``s clothing and they select a specific shopping channel.
김상지(Sang Ji Kim),이연주(Youn Ju Lee),윤정호(Jeong Ho Yoon),유훈(Hun You),이병국(Byung Gook Lee),이준재(Joon Jae Lee) 한국산업응용수학회 2006 Journal of the Korean Society for Industrial and A Vol.10 No.1-1
평판 디스플레이 장치(FPD)의 패널 표면 결함 검출에서 일반적으로 사용되는 단순 문턱값에 의한 결함 검출은 FPD 패널 영상의 불균일한 휘도 변화로 인하여 정확한 결함 검출이 어렵다. 본 논문에서는 이러한 불균일한 휘도 변화를 보상하고, 정확한 결함 검출을 위해 다 해상도 분석방법인 웨이블릿 변환에 기반하여 높은 고주파 잡음제거와 함께 낮은 저주파를 제거함으로써 불균일한 휘도 변화를 보상할 수 있는 알고리즘을 제안하고 구현 하였다. 특히 제조 공정에서의 결함 검출을 실시간 인라인으로 적용하기 위해 리프팅 기반 고속 알고리즘으로 구현하였다. Due to the uneven illumination of FPD panel surface, it is difficult to detect the defects. The paper proposes a method to find the uneven illumination compensation using wavelets, which are done based on multi-resolution structure. The first step is to decompose the image into multi-resolution levels. Second, elimination of lowest smooth sub-image with highest frequency band removes the high frequency noise and low varying illumination. In particular, the main algorithm was implemented by lifting scheme for realtime inline process.