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박진구,차남구,신형재,박장호 한국마이크로전자및패키징학회 1999 마이크로전자 및 패키징학회지 Vol.6 No.1
Monolayer 두께의 불화된 유기박막의 특성을 접촉각 측정을 통해 분석 하였다. 정접촉각을 표면장력의 다른 세 가지의 극성(water, formamide), 비극성(diiodomethane) 용액을 이용하여 Teflon, Spin coating된 FC막, 기상증착된 PFDA와 FC막위에 측정하였다. Aluminum위에 증착된 불화 유기박막이 물에 대해 $130^{\circ}$가 넘는 가장 큰 정접촉각을 나타내었다. 반면에 산화막위에 증착된 유기박막은 $70^{\circ}$미만의 낮은 접촉각을 갖었다. Teflon은 $108^{\circ}$, Spin coating된 막은 $121^{\circ}$로 측정되었다. 이들 측정된 값을 이용 Lewis acid/base 이론에 적용 박막의 표면에너지를 계산한 결과 Teflon의 경우는 18 dynes/cm, Spin coating된 유기박막은 8.4 dynes /cm의 낮은 에너지 값이 계산되었다. 실리콘과 산화막위에 증착된 유기박막은 상대적으로 높은 31~35 dynes /cm의 값을 나타내었으나 aluminum위에 증착된 막에서는 Lewis base 항이 큰 음수 값을 갖는 이례적인 경우가 발생하였다. 이때 음수값을 무시한 경우 계산된 aluminum 상의 증착된 유기박막의 표면에너지 PFDA가 13dynes / cm 이였다. 이는 동접촉각과 AFM 측정결과 다른 표면과는 다르게 aluminum강의 유기박막의 비균질성과 표면의 높은 거칠기에 기인함을 알 수 있었다. Monolayer thick fluorocarbon films were characterized by the contact angle measurements. The contact angles of three different liquids, water, formamide and diiodomethane were measured on spun coated, vapor phased deposited films and Teflon surface. The highest contact angle over $130^{\circ}$was observed on fluorocarbon films deposited on Al substrates while the lowest angles below $70^{\circ}$deposited on oxide. The surface energies were calculated based on Lewis acid /base theory. The surface energies of Teflon and spin coated FC films were calculated to have 18 and 8.4 dynes /cm, respectively. Higher energies of 31 to .35 dynes /cm were calculated on vapor phase deposited films on silicon and oxide. However vapor phase deposited films on aluminum only showed a large Lewis base energy term. It might be explained by the surface roughness and heterogeneity as observed by dynamic contact angles and AFM measurements.
박진구,송영상,김종길,김호건 한양대학교 이학기술연구소 2005 이학기술연구지 Vol.8 No.-
TEOS(tetrethyl orthosilicate)로 부터 제조된 구형의 SiO_(2) 미립자를 TiOCl_(2) 수용액과 반응시켜 SiO_(2) 표면에 10~20㎚ 두께의 균일한 TiO_(2)막이 형성된 TiO_(2)-SiO_(2) 복합미립자를 합성하였다. X-선 회절 분석결과 합성초기의 복합체 TiO_(2)는 비정질 상태이지만 700℃이상의 열처리에 의하여 anatase결정상이 나타났고 900℃이상에서 rutile결정상으로 전이됨을 확인하였다. TiO_(2)-SiO_(2) composite particle in which the homogeneous TiO_(2) layer with width of 10~20㎚ was formed on the SiO_(2) surface by the reaciton of the spherical SiO_(2) particale in TiOCl_(2) solution As the resulte of XRD analysis the phase of TiO_(2) coated on SiO_(2) sphere was noncrystalline state however it was changed to anatase crystal state by heating at 700℃and th anatase phase was transfomed to reile phase at the aboce 900℃