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      저자 : 박인권 ( In-kuen Park ) (검색결과 1 건)
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      • MC/DC 100% Test case를 활용한 Back-to-Back Testing

        고동률 ( Dong-ryul Ko ),유영민 ( Young-min You ),박인권 ( In-kuen Park ),한일영 ( Il-young Han ) 한국정보처리학회 2017 한국정보처리학회 학술대회논문집 Vol.24 No.2

        차량 내 전장부품이 증가하고, 차량 OEM(Original Equipment Manufacturing)이 다양한 차종을 생산 판매함에 따라 다양한 SW(software) 형상이 개발되고 있다. 따라서, 기존에 개발된 SW 형상 과 변경된 SW 형상 간에 기능 일치성 검증에 대한 필요성이 증가하고 있다. 두 가지 SW 형상 간에 기능 일치성 확인을 위한 테스팅 방법으로 Back-to-Back Testing 이 있는데, 이는 각 SW 형상에 동일한 입력값을 주입하고 동일한 출력값이 산출되는 지 확인하는 테스팅 방법이다. Back-to- Back Testing 수행 시 Test case 설계가 필요한데, Test case 의 분량과 테스팅 종료기준에 대해서 아직 확립이 되어 있지 않다. 이제 본 논문에서는 MC/DC(Modified Condition /Decision Coverage) 개념을 이용하여 Test case 분량과 테스팅 종료 기준에 대해서 제시하고, 이를 적용한 사례를 설명한다. 본 논문에서 제시한 Test case 설계 기준을 적용하면, 제한적인 테스팅 일정과 인력을 만족하고, 기능 일치를 확인할 수 있는 충분한 테스팅이 가능할 것으로 판단한다.

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