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안현식,조석제,이철동,하영호,Ahn, Hyun-Sik,Cho, Seok-Je,Lee, Chul-Dong,Ha, Yeong-Ho 대한전자공학회 1989 전자공학회논문지 Vol. No.
최근 집적도의 증가와 더불어 집적회로 제작과 점검을 자동화하기 위하여 영상처리방법을 이용한 집적회로의 인식 알고리듬이 개발되고 있다. 집적회로를 인식하기 위해서는 프레임 영상으로 부터 특징을 얻고 이것으로써 칩내의 모든 프레임 영상을 정합하여야한다. 본 논문은 layout 정보를 나타내는 꼭지점들의 위치와 형태를 직선화 알고리듬을 이용하여 추출한다. 부분적으로 겹치는 이웃 프레임들을 얻어진 꼭지점의 위치와 형태를 특징으로 하여 정합함으로써 꼭지점의 전체적 좌표와 형태를 추출한다. IC chip layout pattern recognition algorithms using image processing techniques are being developed for the automation of manufacturing and inspecting chips. Recognitioin of chip pattern requires feature extraction from nach rrame of chip image adn needs to match the feature data through all frames. In this paper, vertex position and form having layout information are extracted by the feature straightening algorithm, and global coordinates of layout pattern are extracted by the feature straightening algorithm, and global coordinates of layout pattern are obtainnd by vertex form matching from the overlapped area of neighbour frame.
안현식,Ahn, Hyun-Sik 한국융합신호처리학회 2010 융합신호처리학회 논문지 (JISPS) Vol.11 No.3
본 논문에서는 원근 와핑 보정을 이용한 선광원 레이저 거리 검출 시스템을 제안한다. 제안하는 방법은 카메라와 선광원의 선형성의 왜곡이 있을 경우에도 정확도를 높일 수 있는 장점이 있다. 먼저 보정 패널에 표시된 수직이면서 병렬로 배치된 보정점과 투사된 선광원 레이저의 중심 위치를 검출한다. 얻어진 선광원 레이저의 중심위치는 원근 와핑을 이용하여 가까이 있는 보정점들로부터 실제 좌표를 계산함으로써 보정 데이터를 구하고, 동일한 과정을 보정패널을 이동하면서 반복함으로써 보정 파일을 작성한다. 거리데이터 검출은 입력된 선광원 레이저 영상으로부터 중심위치를 구하고, 보정 파일에서 가장 가까운 보정 데이터를 찾아서 선형 보간으로 검출한다. 실험에서는 제안한 선광원 레이저 거리 검출 방법은 비선형적인 광학계에도 불구하고 130mm 깊이 범위에서 0.08mm 내의 오차로 거리 측정이 가능함을 보인다. In this paper, a slit light laser range finding method using perspective warping calibration is proposed. This approach has an advantage to acquire relatively high accuracy, although the optical system is nonlinear. In the calibration, we detect the calibration points which are marked on the calibration panel and acquire the center position of the slit light laser in the image, which are used for computing the real positions of the slit light by using perspective warping. A calibration file is obtained by integrating the calibration data with the transition of the panel. The range data is acquired by interpolating the center position of the slit light laser to the calibration coordinates. Experimental results show that the proposed method provides the accuracy of 0.08mm error in depth range of 130mm with the low cost optical system.
BIPV 시스템을 위한 전이금속 산화물 다중층 컬러 유리 구현 기술 연구
안현식(Hyeon-Sik Ahn),Akpeko Gasonoo,장은정(Eun-Jeong Jang),김민회(Min-Hoi Kim),이재현(Jae-Hyun Lee),최윤석(Yoonseuk Choi) 한국전기전자학회 2019 전기전자학회논문지 Vol.23 No.4
이 논문에서는 전이 금속 산화물(TMO)층으로 구성된 다층 박막을 사용하는 BIPV(Building Integrated Photovoltaic) 시스템용 전면 컬러 유리를 제안하였다. 몰리브덴 산화물(MoO₃) 및 텅스텐 산화물(WO₃)은 굴절률 차이가 큰 계면을 형성하여 적절한 간섭효과를 얻을 수 있다. 단일 Thermal Evaporator 증착 방법을 통해 다층 박막을 제작함으로써 간단하고 빠르며 저렴한 제조 방법을 제안하였다. MoO₃(60nm)/WO₃(100nm) 다층 박막으로 90% 이상의 광 투과율을 갖는 자홍색 유리를 시연하였으며, 이 기술은 상용화된 BIPV 시스템에 유용할 것으로 기대된다. This paper proposed colored front panel glass for Building Integrated Photovoltaic (BIPV) systems using multi-layered thin films composed of transition metal oxide (TMO) layers. Molybdenum oxide (MoO₃) and tungsten oxide (WO₃) provided complementary and suitable materials in making effective interference of reflected light from interfaces with significant difference in refractive indices. A simple, fast, and cheap fabrication method was achieved by depositing the multi-layer films in a single thermal evaporator. Magenta colored glass with optical transmittance of more than 90% was achieved with MoO₃(60nm)/WO₃(100nm) multi-layered film. This technology could play in a critical role in commercial BIPV system applications.