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Four Point Probe 방법을 이용한 전기비저항의 두께효과
강전홍(J.H. Kang),김한준(H.J. Kim),유광민(K.M. Yu),한상옥(S.O. Han),김종석(J.S. Kim),박강식(K.S. Park),류제천(J.C. Ryu) 대한전기학회 2006 대한전기학회 학술대회 논문집 Vol.2006 No.7
금속의 전기비저항 측정은 4단자 방법, van der Pauw방법, Four Point Prode(FPP) 방법 등이 있으며, 이들의 정확한 측정방법을 고찰하고, 그 중 FPP 방법에 의한 비저항의 두께효과를 비교 분석하기 위하여 비자성 금속 SUS 316을 두께별로 가공한 후 실험하였다. 그 결과 4단자 및 van der Pauw 방법으로 측정된 도 전율은 각각 2.273%IACS으로 나타났으며, FPP방법으로 측정된 도전율은 probe spacing 5.0 ㎜, ed current 10 A에서 시료의 두께가 2 ㎜일 때 2.288%IACS, 3 ㎜일 때 2.271 %IACS로서 상기 두 방법으로 측정한 결과와 0.5 %이내에서 일치하였으나, 시료가 5 ㎜ 및 11 ㎜ 에서는 매우 큰 오차를 나타냈다.
고온초전도체 Y₁Ba₂Cu₃O7-δ 박막의 Hall 효과
허재호(J. H. Her),류제천(J. C. Ryu),김형국(H. K. Kim),김장환(J. W. Kim) 한국자기학회 1994 韓國磁氣學會誌 Vol.4 No.1
High Tc superconducting Y₁Ba₂Cu₃O_(7-δ) thin film was grown up for c-axis orientation by epitaxial growth method on LaAlO₃ single crystal substrate. The crystal structures of this thin film were found to be c-axis orientation by X-ray diffraction patterns. Hall effect and resistivity measurements were made by van der Pauw method. Hall resistivity was calculated from the magnetoresistivity by considering thermomagnetic effect. The relation was ρ_H = ρ_stanα_n - QBT Ss/Ks The measured Hall resistivity and the calculated one are in good agreement each other.