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Video LEED system 과 Tensor LEED program 을 이용한 Cu(001) 표면의 구조분석
서지근(J. Seo),김상현(S. H. Kim),변대현(H. G. Min),한원근(D. H. Byun),민항기(W. K. Han),김재성(J. S. Kim),유재준(J. J. Yu) 한국진공학회(ASCT) 1994 Applied Science and Convergence Technology Vol.3 No.3
Cu(001) 표면의 원자구조를 Dynamic LEED 실험을 통하여 결정하였다. Video LEED system 을 이용하여 I/V특성곡선을 얻었고, 이를 tensor LEED 계산방법으로 분석하였다. 다양한 실험조건과 여러가지 R-factor값의 최소화를 통해 얻은 Cu(001) 표연구조가 1.5%(0.05Å)의 오차범위 내에서 수렴하였다. 이는 기존 설험 결과와도 잘 일치한다. 또한 first-principles계산이 tensor LEED분석에 많은 도움이 됨을 알아내었다. We determined the atomic structure of Cu(001) surface through dynamic LEED experiment. We obtained I/V-curve using video LEED system and analyzed using tensor LEED algorithm. We confirm that the prediction of Cu(001) surface struture remains within 1.5%(0.05Å) uncertainty under several experimental conditions and by minizing the values of various R-factor. The results are consistent with the previously suggested structure. Furthermore, We observed that the first-principles calculation is very helpful to tensor LEED analysis.
화상 처리를 이용한 저에너지 전자회절시스템(LEED) 개발
김재훈(J. H. Kim),김동준(D. J. Kim),이승민(S. M. Lee),김재성(J. S. Kim),변태현(D. H. Byun),민항기(H. G. Min) 한국진공학회(ASCT) 1993 Applied Science and Convergence Technology Vol.2 No.4
CCD Camera와 frame grabber로 얻은 digital LEED pattern 화상으로부터 spot intensity 및 intensity profile을 구하는 software를 개발하였다. 특히 기존의 방법보다 좀 더 합리적으로 background intensity를 제거하는 algorythm을 적용하였다. 본 software를 이용하여 Cu(001) surface LEED spot의 I/V characteristic을 얻었고, Davis and Noonan의 data와 비교하여 일치하는 결과를 확인하였다. 또한 본 system을 이용하여 매우 쉽고, 편리하게 RHEED spot intensity oscillation을 측정할 수 있었다. Image processing software is developed to get spot intensity from the frame of a LEED pattern obtained by using a CCD Camera and a frame grabber. Improved algorythm for more reasonable background substraction is implemented in this software. I/V Characteristics of some spots from Cu(001) surface are collected. These results are compared with those of Davis and Noonan and found to be consistent with the latter results. This software is also applied to measure RHEED spot intensity oscillation, and gives clear oscillations very easily.