http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
Micro-TEM Cell을 사용한 표준 전자기장의 발생 및 측정불확도 평가
강진섭(Jin-Seob Kang),김정환(Jeong-Hwan Kim),강웅택(Ung-Taek Kang),강노원(No-Weon Kang),강태원(Tae-Weon Kang) 한국전자파학회 2009 한국전자파학회논문지 Vol.20 No.1
본 논문에서는 micro-TEM cell을 사용한 표준 전자기장 발생법을 기술하고 측정불확도를 평가하였다. 표준전자기장 발생 시스템은 auto-leveling 기능을 가진 신호발생부, 최대 1.2 ㎓까지 동작하는 micro-TEM cell, 서미스터 마운트를 사용한 전력측정부로 구성된다. 표준 전자기장 발생법의 타당성을 보이기 위해 10 ㎒~1 ㎓ 대역에서 전자기장의 세기 20 V/m에 대해 실시된 전자기장의 세기 국제비교(CCEM.RF-K20)의 참여 결과를 제시하였다. In this paper, a standard field generation method using a micro-TEM cell is described and its measurement uncertainty is evaluated. The standard field generation system consists of an auto-leveling signal source, a micro-TEM cell operating up to 1.2 ㎓, and a power measuring instrument using a thermistor mount. Measurement results of a field strength key comparison (CCEM.RF-K20) for the field strength of 20 V/m at frequencies between 10 ㎒ and 1 ㎓ are presented for validating the standard field generation method.
FDTD법을 이용하여 분산매질을 고려하기 위한 PLRC-APML 기법
이정엽,이정해,강노원,정현교,Lee Jung-Yub,Lee Jeong-Hae,Kang No-Weon,Jung Hyun-Kyo 한국전자파학회 2004 한국전자파학회논문지 Vol.15 No.10
본 논문에서는 유한 시간 차분법(FDTD) 내에서 PLRC(Piecewise Linear Recursive Convolution)법을 이용한 분산성 물질에 대한 비등방성 흡수체(APML)를 제안한다. 제안된 흡수체는 비선형, 분산성 매질 해석시 무한 경계조건을 표현하기 위해 사용될 수 있다. 제안된 흡수체는 기존의 APML 정식화 과정에서 분산 특성을 고려한 것이며 PLRC법의 장점인 빠른 계산시간, 저 메모리 사용, 다극 감수율의 간편한 정식화 등의 장점을 가지고 있다. 개발된 분산성 APML은 드바이(Debye)매질과 로렌츠(Lorentz) 매질 등의 분산성 물질의 해석에 적용하였으며 수치실험을 통해 흡수경계에서 뛰어난 흡수율을 가짐을 보였다. In this paper, a dispersive anisotropic perfectly matched layer(APML) is proposed using piecewise linear recursive convolution(PLRC) for finite difference time domain(FDTD) methods. This proposed APML can be utilized for the analysis of a nonlinear dispersive medium as absorbing boundary condition(ABC). The formulation is simple modification to the original AMPL and can be easily implemented. Also it has some advantages of the PLRC approach-fast speed, low memory cost, and easy formulation of multiple pole susceptibility. We applied this APML to 2-D propagation problems in dispersive media such as Debye and Lorentz media The results showed good absorption at boundaries.
광-전자파 기반 20 GHz급 펄스 샘플링 오실로스코프
이동준(Dong-Joon Lee),강노원(No-Weon Kang),이주광(Joo-Gwang Lee),강태원(Tae-Weon Kang) 한국전자파학회 2011 한국전자파학회논문지 Vol.22 No.10
본 논문에서는 전자 소자 기반의 상용 오실로스코프에 의한 기존의 펄스 신호 측정 방법의 주파수 한계를 극복하기 위하여 전기광학 기반의 측정 방법을 기술하였다. 펄스폭 0.1 ps의 펨토초 레이저와 광다이오드를 사 용하여 20 GHz 주파수 범위에 대응되는 전자기 펄스를 발생시키고, 마이크로스트립 선로를 통해 전송되는 전자기 펄스를 검출하기 위하여 전기광학 샘플링 기법을 이용하였다. 마이크로스트립 선로 위의 매우 근접한 거리에서 광학 결정 프로브를 이용하여 비접촉식으로 펄스 신호를 검출하고, 선로의 출력단 펄스 신호를 기존의 오실로스코프로 측정하여 두 측정 결과를 서로 비교하였다. This paper presents an optical sampling technique which can be used to overcome the limited bandwidth of a commercial electronic sampling oscilloscope for pulsed signal measurement. Employing an ultrafast laser with 0.1 ps pulse duration, 20 GHz electromagnetic pulses were generated through a fast photodiode. These pulses were transmitted through a microstrip line and sampled with an optically triggered electro-optic system. Two sampled 20 GHz pulses - measured independently over the transmission line with a non-contacting electro-optic method and conventional electronic one through a coaxial cable - were compared.
이동준(Dong-Joon Lee),권재용(Jae-Yong Kwon),소준호(Joonho So),강노원(No-Weon Kang) 한국전자파학회 2012 한국전자파학회논문지 Vol.23 No.8
본 논문에서는 샘플링 오실로스코프를 이용한 시간 영역의 해석을 통해 초고주파 소자 및 안테나의 반사 계수를 평가하는 방법을 소개한다. 20 ㎓ 급의 펄스 입력 신호에 대한 반사 신호를 측정한 후, 이를 푸리에 변환하여 반사 계수를 추출하였다. 초고주파 반사파 회로망의 보정에 필요한 3가지 오차 계수들은 3.5 ㎜ calibration kit을 이용하여 유도하였다. 또한, 반사파 측정을 위하여 결합기를 사용한 경우의 오차 계수를 유도하고, 이를 적용하여 얻은 반사 계수와 벡터 회로망 분석기로 측정한 결과를 비교하였다. This paper presents a method to measure reflection coefficients of microwave devices or antennas based on time domain analysis with sampling oscilloscopes. The reflection coefficients were extracted by the Fourier transformation of echo pulses from devices with respect to the 20 ㎓ incident pulse signals. The three-error terms, which are commonly used for the correction of a microwave network, were determined using a 3.5 ㎜ calibration kit. In addition, a modified error-correction model associated with a directional coupler for reflection coefficient measurements is introduced. The results were compared with those of measured with a commercial vector network analyzer.