http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
물리흡착하는 화학작용제에 대한 방독면 정화통의 성능 연구
임종선,김철성,Im, Jong-Seon,Kim, Cheol-Seong 한국방위산업진흥회 1999 國防과 技術 Vol.- No.240
우리 군이 사용하고 있는 K1 방독면은 모든 종류의 화학작용제에 대한 방호력이 뛰어나며 생존성을 보장할 수 있는 화학방호 장비로 병사들은 화학전에 대해 막연한 두려움을 가질 필요가 없으며 자신감을 가져야 할 것이다. 또한 언제든지 화학무기에 대응할 수 있도록 평시에 많은 훈련을 쌓아서 전시에 언제든지 자신감을 가지고 작전을 수행할 수 있는 능력을 구비해야 할 것이다
이은구,윤현민,김철성,Lee, Eun-Gu,Yun, Hyun-Min,Kim, Cheol-Seong 한국전기전자학회 2002 전기전자학회논문지 Vol.6 No.2
수치해석을 이용하여 전력 BJT의 정특성을 분석하는 방법을 제안한다. 고농도의 불순물이 주입된 영역에서 반송자 농도를 정교하게 구하기 위해 Fermi-Dirac 통계를 고려하며, 베이스 영역에서 재결합 전류를 계산하기 위해 Philips Unified 이동도 모델과 SRH 및 Auger 생성-재결합 모델을 사용한다. 제안된 방법을 검증하기 위해 현재 산업체에서 사용중인 전력 BJT의 베이스 전류를 $1.0[{\mu}A]$에서부터 $3.5[{\mu}A]$까지 $0.5[{\mu}A]$ 단위로 증가시키면서 컬렉터 전류의 실측치와 BANDIS와 비교한 결과 8.9%이내의 상대오차를 보였다. An algorithm for analyzing the characteristics of the power BJT using numerical analysis method is proposed. The Fermi-Dirac statistics is used to calculate the carrier concentration in highly doped region. Philips Unified mobility model, SRH model and Auger model is used to calculate the recombination current of base region. To verify the accuracy of the proposed method, the collector current of BANDIS is compared with the measured data in the condition of the base current increased from $1.0[{\mu}A]\;to\;3.5[{\mu}A]$. The collector current of BANDIS show a maximum relative error within 8.9% compared with the measured data.
우수한 수렴특성을 갖는 3차원 열흐름 방정식의 이산화 방법
이은구,윤현민,김철성,Lee, Eun-Gu,Yun, Hyun-Min,Kim, Cheol-Seong 한국전기전자학회 2002 전기전자학회논문지 Vol.6 No.2
정상상태에서 소자 내부의 격자온도 분포를 해석할 수 있는 시뮬레이터를 개발하였다. Slotboom 변수를 사용하여 열흐름 방정식을 이산화하였고, 요소내에서 열전도율의 적분값을 해석적으로 구할 수 있는 방법을 제안하였다. 제안된 방법의 타당성을 검증하기 위해 $N^+P$ 접합 다이오드와 BJT에 대해 모의실험을 수행하였고 DAVINCI와 MEDICI의 결과와 비교하였다. $N^+P$ 접합 다이오드에서 순방향 인가전압이 1.4[V]일 때 격자 온도분포는 DAVINCI의 결과와 2%의 상대오차를 보였으며 BJT에서 컬렉터 전압이 5.0[V]이고 베이스 전압이 0.5[V]일 때 격자 온도분포는 MEDICI의 결과와 3%의 상대오차를 보였다. BANDIS에서 제안된 열전도율의 적분방법을 사용하는 경우 수렴을 위해 평균 3.45회의 행렬 연산이 필요하나 DAVINCI에서는 평균 5.1회의 행렬 연산이 필요하였고 MEDICI는 평균 4.3회 행렬연산이 필요하였다. The simulator for the analysis of the lattice temperature under the steady-state condition is developed. The heat flow equation using the Slotboom variables is discretized and the integration method of the thermal conductivity without using the numerical analysis method is presented. The simulations are executed on the $N^+P$ junction diode and BJT to verify the proposed method. The average relative error of the lattice temperature of $N^+P$ diode compared with DAVINCI is 2% when 1.4[V] forward bias is applied and the average relative error of the lattice temperature of BJT compared with MEDICI is 3% when 5.0[V] is applied to the collector contact and 0.5[V] is applied to the base contact. BANDIS using the proposed method of integration of thermal conductivity needs 3.45 times of matrix solution to solve one bias step and DAVINCI needs 5.1 times of matrix solution MEDICI needs 4.3 times of matrix solution.