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이남호,최응호,이원수,안성구 ( Nam Ho Lee,Eung Ho Choi,Won Soo Lee,Sung Ku Ahn ) 대한피부과학회 1997 대한피부과학회지 Vol.35 No.4
Here we report a case of familial acanthosis nigricans. The patient was a 16-year-old boy, who had hyperpigmented, velvety plaques on both axillae for 5 years. His mother and sister had the same lesions on both axillae. On histopathological examination, we could observe hyperkeratosis, papillomatosis and irregular acanthosis of the epidermis and upward projection of dermal papillae in finger-like fashions. The patient, his mother and sister had no endocrinopathies or congenital abnormalities. (Kor J Dermatol l997;35(4): 802-804)
Iroko재(材)의 고주파진공건조성 및 물리적 성질 개선
이남호,진영문,Lee, Nam-Ho,Jin, Young-Moon 한국가구학회 2006 한국가구학회지 Vol.17 No.1
This study was carried out to investigate a radio-frequency/vacuum (RF/V) drying ability and physical properties of the green boards and the pre-kiln dried boards with 40 mm thickness, and the 70 mm-thick green board of Iroko (Milicia excelsa). The major results were summarized as follows; The drying time from initial moisture content (MC) of 110% to approximate 6% MC for a 40mm-thick green board was 192 hours, and about 200 hours for the 70 mm-thick green board, respectively and so the RF/V drying times were dramatically shortened compared to conventional kiln drying time. The case hardenings at the RF/V drying completion stage test were very negligible, thus represented almost no existence of the residual stress. The checks were very slightly formed on all of the boards during the RF/V drying test, but crook appeared quite severely. During the accelerating test, the water-resistant treated specimens had not experienced any signs of checking occurred, whereas the control boards had encountered very frequent occurrences of end checking and slight surface checking. There were no observations of warping and discoloring regardless of the treatment.
이남호,박순용,황영관,박종원,임용곤,Lee, Nam-Ho,Park, Soon-Yong,Hwang, Young-Gwan,Park, Jong-Won,Lim, Yong-Gon 한국정보통신학회 2011 한국정보통신학회논문지 Vol.15 No.7
기존 방사선 검색장치는 2차원 방사선 스캔 영상을 사용하기 때문에 정확성이 낮다는 것이 문제점으로 지적되어왔다. 본 연구에서는 컨테이터 X-선 검색 영상에 대한 스테레오 영상처리 기술의 적용 가능성을 분석하였다. 일반적 방사선 검색장치에 라인 센서 하나만을 추가하여 새롭게 고안한 스테레오 영상획득 장치로부터 검사 오브젝트의 좌우 시차 정보를 달리하는 두 장의 이차원 방사선 스캔영상을 획득하였다. 획득 영상에 대해서 매칭 알고리즘을 이용하여 3차원 오브젝트 복원하는 과정을 진행하였다. 오브젝트의 투과밀도 정보인 방사선 영상의 특성상 일반 스테레오 영상처리 알고리즘 적용은 한계가 발생하였다. 이를 극복하기 위해 먼저 이차원 영상의 에지정보에 기반한 3차원 영상복원을 시도하였다. 또한 새로운 볼륨복원 방식의 3차원 복원 알고리즘을 제안하였고, 실험을 통해 오브젝트 검색에서 개선된 형상복원 방법임을 확인하였다. 제안된 기술은 제한된 스캔환경에서 CT나 MRI 적용이 어려운 오브젝트에 대해 응용이 가능할 것이다. As the existing radiation scanning systems use 2-dimensional radiation scanned images, the low accuracy has been pointed out as a problem of it. This research analyzes the applicability of the stereo image processing technique to X-ray scanned images. Two 2-dimensional radiation images which have different disparity values are acquired from a newly designed stereo image acquisition system which has one additional line sensor to the conventional system. Using a matching algorithm the 3D reconstruction process which find the correspondence between the images is progressed. As the radiation image is just a density information of the scanned object, the direct application of the general stereo image processing techniques to it is inefficient. To overcome this limitation of a stereo image processing in radiation area, we reconstruct 3-D shapes of the edges of the objects. Also, we proposed a new volume based 3D reconstruction algorithm. Experimental results show the proposed new volume based reconstruction technique can provide more efficient visualization for cargo inspection. The proposed technique can be used for such objects which CT or MRI cannot inspect due to restricted scan environment.
이남호,Lee, Nam Ho,Richard C. Larock Korean Chemical Society 2001 Bulletin of the Korean Chemical Society Vol.22 No.8
Efficient syntheses of PGI2 analogue 2a and its epimer 3 have been accomplished. Using aryl iodide 6 as the common intermediate, either radical or palladium-assisted tandem alkene insertion strategies have been employed for construction of the benzoprostacyclin framework.
이남호,황영관,김종열,이승민,Lee, Nam-ho,Hwang, Young-gwan,Kim, Jong-yeol,Lee, Seung-min 한국정보통신학회 2015 한국정보통신학회논문지 Vol.19 No.6
본 연구에서는 정상 운전이나 사고 시 발생되는 고방사선 환경에서 다양한 센서에 공통적으로 사용할 수 있는 내방사선 센서 신호처리 모듈을 설계하였다. 개발한 초기 모듈은 센서의 저항(R)과 정전용량(C) 값의 변화를 입력으로 받아 PWM 신호 변조방식으로 처리하도록 설계되었다. 이 모듈은 총 약 12 kGy 방사선 평가시험에서 Full-Scale 대비 ±10 % 오차범위를 가지고 있었다. 오차 발생의 주요 원인은 방사선 피폭량의 증가에 따른 공통회로 내 스위칭 소자의 열화와 이로 인한 펄스폭 변조회로의 듀티 비 증가로 분석되었다. 이 분석결과를 반영한 방사선 내성강화를 위해 방사선에 의한 특성변화를 상쇄하는 회로를 추가하여 재설계하였고, 20.7 kGy 범위의 TID 시험에서 Full-scale 대비 5% 이하 오차로 개선결과를 얻었다. In this study we designed the radiation-hardened sensor signal processing modules that can be commonly used for a variety of sensors during normal operation and even in high-radiation environments caused by an accident. First development module was designed to receive the change of the R and C value from the sensors and to process the signal as a PWM modulation scheme. This module was assessed to have ± 10% error to the Full-Scale in the radiation test in the range of 12 kGy TID. The main cause of the error was analyzed as the annealing of the common circuit in the switching element and the consequent increase in the duty ratio of the pulse width modulation circuit according to the radiation dose increasement. The redesigned module for higher radiation resistivity with Stub transistor circuit was found to have less than 5% error to the Full-scale from the radiation test results for 20.7 kGy TID range.
고준위 펄스방사선에 의한 전자소자 Latchup의 발생시험 및 분석
이남호,황영관,정상훈,김종열,Lee, Nam-Ho,Hwang, Young-Gwan,Jeong, Sang-Hun,Kim, Jong-Yeol 한국정보통신학회 2014 한국정보통신학회논문지 Vol.18 No.12
펄스 방사선에 의해 전자소자가 받는 영향으로는 Upset, Latchup, Burnout 등이 있다. 이 가운데 Latchup은 대상 소자에 회복 불가능한 영구손상(Permanent Damage)을 가져오게 되며 Burnout으로도 이어져 장비전체에 치명적 기능마비를 유발하기도 한다. 본 연구에서는 전자소자의 내부 공정설계 및 구조정보 활용이 불가능한 상황에서 실험을 통해서 펄스 방사선에 의한 Latchup 발생을 분석하고자 시도하였다. 소자를 전자빔변환 고준위 펄스 감마선 조사한 직후 수행한 전원제공 회로의 차단, 적외선 카메라의 열원측정, 그리고 손상발생 소자의 내부 회로분석의 세 단계별 확인과정은 펄스 방사선에 의해 유발된 Latchup임을 검증하는 효율적 방안으로 여겨진다. When an integrated circuit device is burned out under high-intense radiation and device-level simulation that usually requires manufacturer's proprietary information is not available, experimental conformation of a failure mechanism is often the only choice. To distinguish Latchup from other causes experimentally, a new combination of multiple techniques have been developed and demonstrated. Power supply circumvention, hot-spot monitoring using an infrared camera, and supply current monitoring techniques were implemented for the conformation of the Latchup.