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광범위 Community Computing 환경에서의 Community Computing Network를 이용한 수정된 패킷 결합 알고리즘
김석윤(Seok-Yoon Kim),장훈(Hoon Chang),최정대(Jung-Dae Choi),송좌희(Jwa-Hee Song) 한국컴퓨터정보학회 2008 한국컴퓨터정보학회 학술발표논문집 Vol.16 No.1
본 논문에서는 광범위 Community Computing 환경에서의 Community Computing Network의 에너지 효율과 신뢰성을 높이기 위한 수정된 SPaC(Simple Packet Combining)를 제안한다. 기존의 SPaC는 같은 패킷을 두 개 이상의 오류가 있는 패킷을 이용하여 에러를 복구하는 방법으로 같을 패킷을 두 개 이상의 패킷을 수신하기 위하여 통신 경로에 있는 다른 노드의 패킷을 엿듣는다. 제안하는 수정된 SPaC는 기존의 SPaC를 수정하여 보다 신뢰성을 높이고 보다 향상된 에너지 효율을 가진다.
SoC 내장 메모리를 위한 ARM 프로세서 기반의 프로그래머블 BIST
이민호(Min-ho Lee),홍원기(Won-gi Hong),송좌희(Jwa-hee Song),장훈(Hoon Chang) 한국정보과학회 2008 정보과학회논문지 : 시스템 및 이론 Vol.35 No.5·6
메모리 기술이 발달함에 따라 메모리의 집적도가 증가하게 되었고, 그에 따라 구성요소들의 크기가 작아지게 되고, 고장의 감응성이 증가하게 되어, 테스트는 더욱 복잡하게 된다. 또한, 칩 하나에 포함되어 있는 저장요소가 늘어남에 따라 테스트 시간도 증가하게 된다. SoC 기술의 발달로 대용량의 내장 메모리를 통합할 수 있게 되었지만, 테스트 과정은 복잡하게 되어 외부 테스트 환경에서는 내장 메모리를 테스트하기 어렵게 되었다. 본 논문은 ARM 프로세서 기반의 SoC 환경에서의 임베디드 메모리를 테스트할 수 있는 프로그램 가능한 메모리 내장 자체 테스트를 제안한다. The density of Memory has been increased by great challenge for memory technology; therefore, elements of memory become more smaller than before and the sensitivity to faults increases. As a result of these changes, memory testing becomes more complex. In addition, as the number of storage elements per chip increases, the test cost becomes more remarkable as the cost per transistor drops. Recent development in system-on-chip (SoC) technology makes it possible to incorporate large embedded memories into a chip. However, it also complicates the test process, since usually the embedded memories cannot be controlled from the external environment. We present a ARM processor-programmable built-in self-test (BIST) scheme suitable for embedded memory testing in the SoC environment. The proposed BIST circuit can be programmed vis an on-chip microprocessor.