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      SCOPUS KCI등재

      공정시스템 , 이동현상 , 화학공정안전 : 반도체칩 봉지재용 에폭시 몰딩 컴파운드의 점도거동 = Process System Engineering , Transport Phenomena , Process Safety : Viscosity Behaviors of Epoxy Molding Compound for the Semiconductor Microchip Encapsulant

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      https://www.riss.kr/link?id=A19621660

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      The viscosity of epoxy molding compound(EMC) for the encapsulation of semiconductor chip has been measured using a parallel plate rheometer and a specially designed slit rheometer. The viscosity of EMC at low temperature and low shear rate has been de...

      The viscosity of epoxy molding compound(EMC) for the encapsulation of semiconductor chip has been measured using a parallel plate rheometer and a specially designed slit rheometer. The viscosity of EMC at low temperature and low shear rate has been determined with a parallel plate rheometer, while that at high temperature and high shear rate has been determined with the slit rheometer. The experimental results of the parallel plate rheometer revealed that the modified Cox-Merz relation was more suitable for the characterization of viscosity behavior of EMC than the Cox-Merz relation. The viscosity data measured using the specially designed slit rheometer at high temperature and shear rate exhibited a good agreement with the fitted values calculated using the Cross-Macosko equation. The Cross-Macosko equation and Kamal equation determined by the slit rheometer and differential scanning calorimeter(DSC), respectively, made a good prediction in spiral flow length of EMC.

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      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) KCI등재
      2013-01-01 평가 등재 1차 FAIL (등재유지) KCI등재
      2010-12-02 학술지명변경 한글명 : 화학공학 -> Korean Chemical Engineering Research(HWAHAK KONGHAK) KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-08-25 학술지명변경 외국어명 : Korean Chem. Eng. Res. -> Korean Chemical Engineering Research KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2007-09-27 학회명변경 영문명 : The Korean Institute Of Chemical Engineers -> The Korean Institute of Chemical Engineers KCI등재
      2006-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2001-07-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      1999-01-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.43 0.43 0.4
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.37 0.35 0.496 0.11
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