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Non-Blocking Testing for Network-on-Chip
Letian, H.; Junshi, W.; Ebrahimi, M.; Daneshtalab, M.; Xiaofan, Z.; Guangjun, L.; Jantsch, A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.679-692
Capacitive and Inductive TSV-to-TSV Resilient Approaches for 3D ICs
Yaghini, P. M.; Eghbal, A.; Yazdi, S. S.; Bagherzadeh, N.; Green, M. M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.693-705
Boolean and Pseudo-Boolean Test Generation for Feedback Bridging Faults
Favalli, M.; Dalpasso, M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.706-715
CoreRank: Redeeming “Sick Silicon” by Dynamically Quantifying Core-Level Healthy Condition
Yan, Guihai IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.716-729
A Power-Aware Approach for Online Test Scheduling in Many-Core Architectures
Haghbayan, M. H.; Rahmani, A. M.; Miele, A.; Fattah, M.; Plosila, J.; Liljeberg, P.; Tenhunen, H. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.730-743
Development Flow for On-Line Core Self-Test of Automotive Microcontrollers
Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Luca, S.; Sansonetti, A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.744-754
Concertina: Squeezing in Cache Content to Operate at Near-Threshold Voltage
Ferreron, A.; Suarez-Gracia, D.; Alastruey-Benede, J.; Monreal-Arnal, T.; Ibanez, P. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.755-769
A Local Parallel Search Approach for Memory Failure Pattern Identification
Bing-Yang, L.; Cheng-Wen, W.; Lee, M.; Hung-Chih, L.; Ching-Nen, P.; Min-Jer, W. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.770-780
A Novel Scheme for Tolerating Single Event/Multiple Bit Upsets (SEU/MBU) in Non-Volatile Memories
Wei, W.; Namba, K.; Yong-Bin, K.; Lombardi, F. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.781-790
Evaluation and Mitigation of Radiation-Induced Soft Errors in Graphics Processing Units
Gonçalves de Oliveira, D. A.; Lima Pilla, L.; Santini, T.; Rech, P. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 p.791-804
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