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이 학술지의 논문 검색
Techniques to Reduce Switching and Leakage Energy in Unrolled Block Ciphers
Dhanuskodi, Siva Nishok; Holcomb, Daniel IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1414-1423
Efficient Software Implementation of Ring-LWE Encryption on IoT Processors
Liu, Zhe; Azarderakhsh, Reza; Kim, Howon; Seo, Hwajeong IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1424-1433
Lightweight Ciphers and Their Side-Channel Resilience
Heuser, Annelie; Picek, Stjepan; Guilley, Sylvain; Mentens, Nele IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1434-1448
Laser-Induced Fault Injection on Smartphone Bypassing the Secure Boot-Extended Version
Vasselle, Aurelien; Thiebeauld, Hugues; Maouhoub, Quentin; Morisset, Adele; Ermeneux, Sebastien IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1449-1459
Enabling Energy-Efficient and Reliable Neural Network via Neuron-Level Voltage Scaling
Wang, Jing; Fu, Xin; Wang, Xu; Liu, Shubo; Gao, Lan; Zhang, Weigong IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1460-1473
Separable Binary Convolutional Neural Network on Embedded Systems
Liu, Renping; Chen, Xianzhang; Liu, Duo; Ling, Yingjian; Wang, Weilue; Tan, Yujuan; Xiao, Chunhua; Yang, Chaoshu; Zhang, Runyu; Liang, Liang IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1474-1486
Schedulability Analysis of Global Scheduling for Multicore Systems With Shared Caches
Xiao, Jun; Altmeyer, Sebastian; Pimentel, Andy D. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1487-1499
LUT Input Reordering to Reduce Aging Impact on FPGA LUTs
Ebrahimi, Mohammad; Sadeghi, Rezgar; Navabi, Zainalabedin IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1500-1506
PARMA: Parallelization-Aware Run-Time Management for Energy-Efficient Many-Core Systems
Al-hayanni, Mohammed A. Noaman; Rafiev, Ashur; Xia, Fei; Shafik, Rishad; Romanovsky, Alexander; Yakovlev, Alex IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1507-1518
Algorithmics of Cost-Driven Computation Offloading in the Edge-Cloud Environment
Du, Mingzhe; Wang, Yang; Ye, Kejiang; Xu, Chengzhong IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2020 p.1519-1532
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