본 논문에서는 컴퓨터 비젼을 이용하여 웨이퍼 위치 에라를 측정하는 방법을 제시한다. 웨이퍼란 반도체를 생산하는 과정에 필요한 재료중의 하나이다. 반도체 제작 과정 중 화학 약품 처리...
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2009
Korean
학술저널
40-43(4쪽)
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본 논문에서는 컴퓨터 비젼을 이용하여 웨이퍼 위치 에라를 측정하는 방법을 제시한다. 웨이퍼란 반도체를 생산하는 과정에 필요한 재료중의 하나이다. 반도체 제작 과정 중 화학 약품 처리...
본 논문에서는 컴퓨터 비젼을 이용하여 웨이퍼 위치 에라를 측정하는 방법을 제시한다. 웨이퍼란 반도체를 생산하는 과정에 필요한 재료중의 하나이다. 반도체 제작 과정 중 화학 약품 처리로 인한 웨이퍼 세척과정이 필요하다. 이 때 웨이퍼가 클리닝 시스템 속에서 정 위치에 놓여지지 않는 경우가 발생 한다. 이러한 경우가 발생하면 웨이퍼가 파손 되거나 클리닝 시스템 고장의 원인이 된다. 이러한 사고를 미연에 방지 하기 위하여 컴퓨터 비젼 및 방사형 보드를 이용한 켈리브레이션 기술을 이용하여 실시간으로 웨이퍼의 위치를 파악하는 프로그램을 만들고자 한다.
목차 (Table of Contents)
Location Based Routing Protocol for Delay Tolerant Networks
Interference Aware Power Control MAC Protocol in an Ad Hoc Network for a Directional Antenna