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Goh, S. H. ; Manlangit, E. C. ; Susanto, E. ; Yeoh, B. L. ; Hao, H. ; Tan, A. ; Ma, H. H. W. ; Lin, Z. ; Chan, Y. H. ; Lam, J.
2017년
eng
0890-1740
학술저널
Proceedings
8-13 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
International Symposium for Testing and Failure Analysis
Pasadena, CA
Nov 2017
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