http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O119392084
2023년
eng
1012-0394
1662-9779
학술저널
Diffusion and defect data.Pt. B, Solid state phenomena
3-10 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0
상세조회0
다운로드
Optimizing Non-Contact Doping and Electrical Defect Metrology for Production of SiC Epitaxial Wafers
Improving the Polishing Speed and Surface Quality of 4H-SiC Wafers with an MnO~2-Based Slurry