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IEEE Instrumentation and Measurement Society Information
unknown IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.C3
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
unknown IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.C4
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement publication information
unknown IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.C2
Muscas, C.; Pegoraro, P. A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.2214-2215
Djokic, S.; Langella, R.; Meyer, J.; Stiegler, R.; Testa, A.; Xu, X. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.2216-2224
An AC Power Standard for Loss Measurement Systems for Testing Power Transformers
Mohns, E.; Rather, P.; Badura, H. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.2225-2232
Definition of Accurate Reference Synchrophasors for Static and Dynamic Characterization of PMUs
Frigo, G.; Colangelo, D.; Derviskadic, A.; Pignati, M.; Narduzzi, C.; Paolone, M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.2233-2246
Riccobono, A.; Liegmann, E.; Pau, M.; Ponci, F.; Monti, A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.2247-2257
Mingotti, A.; Peretto, L.; Tinarelli, R.; Yigit, K. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.2258-2265
A Low-Cost Approach to the Skin Effect Compensation in Cylindrical Shunts
Faifer, M.; Ferrero, R.; Laurano, C.; Ottoboni, R.; Toscani, S.; Zanoni, M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.2266-2273
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.