배열 처리기에 대한 여러 재구성 방법들이 양품률과 신뢰성을 향상 시키기 위해서 연구 되어지고 있다. 본 논문에서는 고장난 PE와 제한된 하드웨어 자원만을 가지고 배열 처리기를 효율적...
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1992
Korean
004
학술저널
853-856(4쪽)
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배열 처리기에 대한 여러 재구성 방법들이 양품률과 신뢰성을 향상 시키기 위해서 연구 되어지고 있다. 본 논문에서는 고장난 PE와 제한된 하드웨어 자원만을 가지고 배열 처리기를 효율적...
배열 처리기에 대한 여러 재구성 방법들이 양품률과 신뢰성을 향상 시키기 위해서 연구 되어지고 있다. 본 논문에서는 고장난 PE와 제한된 하드웨어 자원만을 가지고 배열 처리기를 효율적으로 재구성할 수 있는 알고리즘을 보였다. (N + 2)(N + 2)배열 처리기에 대해 각 열당 최대 2개의 고장 PE가 발생하거나 그러한 열들이 최대 2개까지 발생할때 성공적으로 재구성 할 수 있으며 그 알고리즘은 선형 복잡도를 갖는다. A가 단일 PE의 영역이라고 한다면 사용되는 영역은 O((N + 2)(N + 2)(√A + A)) 이다. 또한 본 알고리즘은 개념적으로 간단하면서도 분산 및 군집형 오류에 대해서도 재구성이 가능하다.
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