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      CMOS VLSI의 고장 검출에 관한 연구 = (A) study on fault detection for CMOS VLSI

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      https://www.riss.kr/link?id=T1144365

      • 저자
      • 발행사항

        서울 : 漢陽大學校 大學院, 1987

      • 학위논문사항

        학위논문(석사) -- 漢陽大學校 大學院 , 電子工學科 , 1987

      • 발행연도

        1987

      • 작성언어

        한국어

      • 주제어
      • KDC

        569.8 판사항(3)

      • DDC

        621.381736 판사항(19)

      • 발행국(도시)

        서울

      • 형태사항

        iii, 44p. : 삽도 ; 26cm.

      • 일반주기명

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      목차 (Table of Contents)

      • 목차
      • I. 서론 = 1
      • II. CMOS회로의 고장 모델 = 4
      • II-1.CMOS회로의 동작 = 4
      • II-2. Stuck-open 고장 = 5
      • 목차
      • I. 서론 = 1
      • II. CMOS회로의 고장 모델 = 4
      • II-1.CMOS회로의 동작 = 4
      • II-2. Stuck-open 고장 = 5
      • III. CMOS회로의 Stuck-open고장 검출 = 11
      • III-1. CMOS회로의 게이트 모델화 = 11
      • III-2. 블록의 Singular cover와 D-cubes = 16
      • III-3. 테스트 패턴(T_2)생성 알고리즘 = 17
      • III-4. 알고리즘 적용 예 = 20
      • IV. Time-skews를 고려한 CMOS회로의 Stuck-open고장 검출 = 24
      • IV-1. Time-skews = 24
      • IV-2. 결합 시이퀀스 생성 알고리즘 = 27
      • IV-3. 알고리즘 적용 예 = 29
      • V. CMOS PLA의 Stuck-open 고장 검출 = 32
      • V-1. PLA의 구조 = 32
      • V-2. Stuck-open 고장 검출 = 34
      • VI. 결론 = 39
      • 참고문헌 = 40
      • Abstract = 44
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