http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O42197589
Ando, N. ; Masuda, N. ; Tamaki, N. ; Kuriyama, T. ; Saito, S. ; Kato, K. ; Ohashi, K. ; Saito, M. ; Yamaguchi, M.
2004년
eng
학술저널
IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
357-362 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0780384431
International symposium on electromagnetic compatibility; 2004 international symposium on electromagnetic compatibility: EMC 2004
Santa Clara Valley, Calif.
2004; Aug
0
상세조회0
다운로드
WE-AM-1-1 The PCB Level ESD Immunity Study by using 3 Dimension ESD Scan System
WE-AM-1-2 Emission and Immunity Testing: Test Object Electrical Size and Its Implication
WE-AM-1-5 A Novel Concept for Measuring the Transient Electromagnetic Fields with Unknown Amplitude