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      Comparison of Back-Foil Scanning X-Ray Microfluorescence and electron Probe X-Ray Microanalysis for the Elemental Characterisation of Thin Coatings

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      https://www.riss.kr/link?id=O38614006

      • 저자
      • 발행기관
      • 학술지명
      • 권호사항
      • 발행연도

        1995년

      • 작성언어

        eng

      • 주제어
      • Print ISSN

        0026-3672

      • Online ISSN

        1436-5073

      • 등재정보

        SCI;SCIE;SCOPUS

      • 자료형태

        학술저널

      • 원정보자원

        MIKROCHIMICA ACTA SUPPLEMENTUM

      • 수록면

        597-604   [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]

      • 국제 표준도서번호

        3211828745

      • 회의자료명

        Modern developments and applications in microbeam analysis: Microbeam and nanobeam analysis

      • 회의명

        Workshop; 4th

      • 회의장소

        St Malo; France

      • 회의날짜

        1995; May

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