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2000년
eng
1071-9032
2158-1029
학술저널
PROCEEDINGS OF THE IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES
3-9 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0780362764; 0780362772
Microelectronic test structures; ICMTS 2000
International conference; 13th
Monterey, CA
2000; Mar
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