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      내장된 메모리 테스트를 위한 랜덤 BIST의 비교분석 = An Analysis of Random Built-In Self Test Techniques for Embedded Memory Chips

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      목차 (Table of Contents)

      • 요약
      • 1. 서론
      • 2. 메모리 고장모델
      • 3. Linear Hybrid Cellular Automata(LHCA)
      • 4. CA를 이용한 메모리 BIST의 구현
      • 요약
      • 1. 서론
      • 2. 메모리 고장모델
      • 3. Linear Hybrid Cellular Automata(LHCA)
      • 4. CA를 이용한 메모리 BIST의 구현
      • 5. 고장 세뮬레이션 결과
      • 6. 결론 및 향후 연구계획
      • 참고문헌
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