- Abstract
- 1. 서론
- 2. 하드웨어 엘리먼트 평가의 일반사항
- 3. 하드웨어 엘리먼트 평가 활동
- 4. 하드웨어 엘리먼트 평가와 통합
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2020
Korean
556
KCI등재,SCOPUS
학술저널
693-700(8쪽)
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참고문헌 (Reference)
1 "JEDEC JEP122H, Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices"
2 "ISO 26262-9:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 9: Automotive Safety Integrity Level (ASIL)-Oriented and Safety-oriented Analyses"
3 "ISO 26262-8:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 8: Supporting processes"
4 "ISO 26262-5:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 5: Product Development at the Hardware"
5 "ISO 26262-4:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 4: Product Development at the System Level"
6 "ISO 26262-10:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 10: Guidelines on ISO 26262"
7 "AEC-Q200-Rev-D, Stress Test Qualification for Passive Electrical Devices"
8 "AEC-Q101-Rev-D1, Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Discrete Semiconductors in Automotive Applications"
9 "AEC-Q100-Rev-H, Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits"
1 "JEDEC JEP122H, Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices"
2 "ISO 26262-9:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 9: Automotive Safety Integrity Level (ASIL)-Oriented and Safety-oriented Analyses"
3 "ISO 26262-8:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 8: Supporting processes"
4 "ISO 26262-5:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 5: Product Development at the Hardware"
5 "ISO 26262-4:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 4: Product Development at the System Level"
6 "ISO 26262-10:2018, Road Vehicles Functional Safety Part 10: Guidelines on ISO 26262"
7 "AEC-Q200-Rev-D, Stress Test Qualification for Passive Electrical Devices"
8 "AEC-Q101-Rev-D1, Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Discrete Semiconductors in Automotive Applications"
9 "AEC-Q100-Rev-H, Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits"
세종시 자율주행 실증 사례에 기반한 ODD, OEDR 가이드라인에 대한 연구
스테빌라이저 바의 유연성을 고려한 버스 조종 안정성에 관한 연구
다층 신경망을 이용한 보행자 머리 충격 량 예측에 관한 연구
학술지 이력
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2023 | 평가예정 | 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가) | |
2020-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) | |
2018-11-01 | 평가 | SCOPUS 등재 (기타) | |
2016-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (계속평가) | |
2015-12-01 | 평가 | 등재후보로 하락 (기타) | |
2011-01-01 | 평가 | 등재 1차 FAIL (등재유지) | |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2002-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | |
1999-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) |
학술지 인용정보
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.38 | 0.38 | 0.38 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.37 | 0.36 | 0.793 | 0.11 |