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      A High Density Integrated Test Matrix of MOS Transistors for Matching Study

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      • 저자
      • 발행기관
      • 학술지명
      • 권호사항
      • 발행연도

        1998년

      • 작성언어

        eng

      • 주제어
      • Print ISSN

        1071-9032

      • Online ISSN

        2158-1029

      • 자료형태

        학술저널

      • 원정보자원

        PROCEEDINGS OF THE IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES

      • 수록면

        19-24   [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]

      • 국제 표준도서번호

        0780343492; 0780343492; 0780343506

      • 회의자료명

        Microelectronic test structures

      • 회의명

        International conference

      • 회의장소

        Kanazawa; Japan

      • 회의날짜

        1998; Mar

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