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1994년
eng
Asian test ; ATS ; IEEE ; computer ; test technology
학술저널
PROCEEDINGS OF THE ASIAN TEST SYMPOSIUM
311-316 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0818666900; 0818666919
3rd Asian test symposium
Nara; Japan
1994; Nov
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