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Threshold Voltage Calculation in Ultrathin-Film SOI MOSFETs Using the Effective Potential
Ramey, S. M.; Ferry, D. K. IEEE 2003 p.121-125
Periodic Defects in 2D-PBG Materials: Full-Wave Analysis and Design
Frezza, F.; Pajewski, L.; Schettini, G. IEEE 2003 p.126-134
Venugopal, R.; Ren, Z.; Lundstrom, M. S. IEEE 2003 p.135-143
Controlled Single-Electron Effects in Nonoverlapped Ultra-Short Silicon Field Effect Transistors
Boeuf, F.; Jehl, X.; Sanquer, M.; Skotnicki, T. IEEE 2003 p.144-148
Nanocomposite Organic Films on Silicon
Malik, S.; Ray, A. K.; Hassan, A. K.; Nabok, A. V. IEEE 2003 p.149-153
Weller, R. A.; Ryle, W. T.; Newton, A. T.; McMahon, M. D.; Miller, T. M.; Magruder, R. H. IEEE 2003 p.154-157
A Multinanodot Floating-Gate MOSFET Circuit for Spiking Neuron Models
Morie, T.; Matsuura, T.; Nagata, M.; Iwata, A. IEEE 2003 p.158-164
Stochastic Assembly of Sublithographic Nanoscale Interfaces
DeHon, A.; Lincoln, P.; Savage, J. E. IEEE 2003 p.165-174
Electrostatics of Coaxial Schottky-Barrier Nanotube Field-Effect Transistors
John, D. L.; Castro, L. C.; Clifford, J.; Pulfrey, D. L. IEEE 2003 p.175-180
Bipolar Conduction and Drain-Induced Barrier Thinning in Carbon Nanotube FETs
Clifford, J.; John, D. L.; Pulfrey, D. L. IEEE 2003 p.181-185
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