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이 학술지의 논문 검색
Deep Seated Negative Axicon in Selective Optical Fiber Tip and Collimated Bessel Beam
Vairagi, K.; Minz, R. A.; Kaur, S.; Kumbhakar, D.; Paul, S.; Tiwari, U.; Sinha, R. K.; Fick, J.; Mondal, S. K. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.786-789
High Power Dual-Wavelength VECSEL Based on a Multiple Folded Cavity
Scheller, M.; Baker, C. W.; Koch, S. W.; Moloney, J. V.; Jones, R. J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.790-793
Spurious-Free Dynamic Range of the Photonic Time-Stretch System
Yuan, M.; Yuxiao, X.; Hao, C.; Tao, J.; Shilie, Z.; Xiaofeng, J.; Xianmin, Z. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.794-797
An Improved Convergent Model for Single-Photon Avalanche Diodes
Lixia, Z.; Jiangjiang, T.; Ziqing, W.; Huan, H.; Jin, W.; Weifeng, S. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.798-801
False Detections in an Optical Coding-Based PON Monitoring Scheme
Fernandez, M. P.; Costanzo Caso, P. A.; Bulus Rossini, L. A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.802-805
Mitigating Water Absorption in Waveguides Made From Unannealed PECVD SiO
Wall, Thomas; Hammon, Steven; Hamilton, Erik; Zacheu, Gabriel; Orfila, Marcos; Schmidt, Holger; Hawkins, Aaron R. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.806-809
Mitigating Water Absorption in Waveguides Made From Unannealed PECVD SiO2
Wall, T.; Hammon, S.; Hamilton, E.; Zacheu, G.; Orfila, M.; Schmidt, H.; Hawkins, A. R. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.806-809
Integrated High-Performance Two-Stage Ratiometric Wavelength Monitors On Silicon
Gencheng, W.; Tingge, D.; Weiwei, C.; Yuehai, W.; Yubo, L.; Xiaoqing, J.; Jianyi, Y. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.810-813
An EMD-SG Algorithm for Spectral Noise Reduction of FBG-FP Static Strain Sensor
Peide, L.; Wenzhu, H.; Wentao, Z.; Fang, L. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.814-817
Asymmetric Superimposed Optical Vortex Beam Emission at Exceptional Point
Tan, J. Y.; Kyoungsik, Y. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 p.818-821
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