RISS 학술연구정보서비스

검색
다국어 입력

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      KCI등재 SCOPUS

      천이원소(Ni, Cr, Ti)를 첨가한 Bi0.9Dy0.1FeO3 박막의 성장과 전기적 특성 = Preparation and Electrical Properties of Transition-metal (Ni, Cr, Ti)-doped Bi$_{0.9}$Dy$_{0.1}$FeO$_3$ Thin Films

      한글로보기

      https://www.riss.kr/link?id=A104321190

      • 0

        상세조회
      • 0

        다운로드
      서지정보 열기
      • 내보내기
      • 내책장담기
      • 공유하기
      • 오류접수

      부가정보

      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      Pure BiFeO$_3$ (BFO) and Dy^3+- and transition-metal (Ni^2+,Cr^3+, Ti^4+)-ion co-doped (Bi_0.9Dy_(0.1))(Fe_(0.975)_(0.025))O_(3±, (B = Ni^2+, Cr^3+ and Ti^4+, denoted by BDFNi, BDFCr and BDFTi), respectively thin films were prepared on Pt(111)/Ti/SiO...

      Pure BiFeO$_3$ (BFO) and Dy^3+- and transition-metal (Ni^2+,Cr^3+, Ti^4+)-ion co-doped (Bi_0.9Dy_(0.1))(Fe_(0.975)_(0.025))O_(3±, (B = Ni^2+, Cr^3+ and Ti^4+, denoted by BDFNi, BDFCr and BDFTi), respectively thin films were prepared on Pt(111)/Ti/SiO_2/Si(100) substrates by using a chemical solution deposition method. The coated thin films were annealed at 550℃ for 30 min by using a conventional annealing process under a nitrogen atmosphere, and the changes in the microstructure and the electrical properties with doping were investigated. The thin films were well crystallized and randomly oriented, with no detectable impurity and secondary phases. The values of the remnant polarization (2P_r) and the coercive field (2E_c) of the BDFNi,BDFCr and BDFTi thin films were 38 μC/㎠ and 937 kV/cm, 39 μC/㎠ and 954 kV/cm, and 49 μC/㎠ and 1070 kV/cm at an electric field of 1000 kV/cm, respectively. The leakage current densities of the BFO, BDFNi, BDFCr and BDFTi thin films were 2.58× 10^-3 A/㎠, 8.62 × 10^-5 A/㎠, 1.91× 10^-5 A/㎠, and 5.71× 10^-5 A/㎠ at an electric field of 100 kV/cm, respectively. The dielectric constants of the BFO, BDFNi, BDFCr and BDFTi thin films were 121,130, 145, and 124 at a frequency of 1 kHz, respectively, and at the same frequency, the dielectric losses were 0.049, 0.042, 0.039, and 0.043, respectively. The improved electrical properties for the co-doped thin films could be explained by a reduction of oxygen vacancies due to the substitution of Dy and transition-metal (Ni,Cr, Ti) ions and the change in the microstructure.

      더보기

      국문 초록 (Abstract)

      화학 용액 증착법으로 순수한 BiFeO_3 (BFO) 박막과 BiFeO_3의Bi^3+이온 일부를 Dy^3+ 으로 치환하고 Fe^3+이온 일부를Ni^2+, Cr^3+, Ti^4+이온으로 동시에 치환한(Bi_(0.9)Dy_(0.1))(Fe_(0.975)B_(0.025))O_(3±(B =Ni^2+, C...

      화학 용액 증착법으로 순수한 BiFeO_3 (BFO) 박막과 BiFeO_3의Bi^3+이온 일부를 Dy^3+ 으로 치환하고 Fe^3+이온 일부를Ni^2+, Cr^3+, Ti^4+이온으로 동시에 치환한(Bi_(0.9)Dy_(0.1))(Fe_(0.975)B_(0.025))O_(3±(B =Ni^2+, Cr^3+, Ti^4+, BDFNi, BDFCr, BDFTi라 함) 박막들을Pt(111)/Ti/SiO_2/Si(100)기판 위에 성장시켜 박막의 구조와 전기적특성 변화를 측정, 비교 분석하였다. 성장시킨 박막들은 550℃의질소 분위기에서 통상적인 방법으로 열처리 하였다. 박막들은 잘결정화되어 있으며 어떤 축 방향으로도 정렬되어 있지 않았고 눈에 띄는이차상이나 불순물상도 발견되지 않았다. 외부 전기장이 1000 kV/cm 일때, BDFNi, BDFCr, BDFTi 박막에 대한 잔류 분극(2P_r)과항전기장(2E_c) 값은 각각 38 μC/㎠ 과 937 kV/cm, 36 μC/㎠과 954 kV/cm, 49 μC/㎠과 1070 kV/cm 이었다. 또외부 전기장이 100 kV/cm일 때 BFO와 BDFNi, BDFCr, BDFTi 박막의 누설전류 밀도는 각각 2.58 × 10^-3 A/㎠, 8.62×10^-5 A/㎠, 1.91 × 10^-5 A/㎠, 5.71 ×10^-5 A/㎠ 이었으며, 주파수가 1 kHz일 때 BFO와 BDFNi, BDFCr,BDFTi 박막의 유전율은 각각 121과 130, 145, 124 이었으며, 같은주파수에서 유전 손실은 각각 0.049, 0.042, 0.039, 0.043 이었다. 이와같이 동시 치환한 박막들이 좋은 전기적 특성을 보이는 것은 치환에의해서 산소 빈자리 수의 감소와 미세 구조의 변화가 일어났기때문이라고 보여진다.

      더보기

      참고문헌 (Reference)

      1 Y.-H. Lee, 87 : 172901-, 2005

      2 S. Gupta, 105 : 014101-, 2009

      3 J. Wang, 299 : 1719-, 2003

      4 S. U. Lee, 102 : 044107-, 2007

      5 M. Kumar, 100 : 074111-, 2006

      6 G. L. Yuan, 100 : 024109-, 2006

      7 X. Qi, 86 : 062903-, 2005

      8 V. R. Palkar, 80 : 1628-, 2002

      9 C. Wang, 99 : 054104-, 2006

      10 J. K. Kim, 88 : 132901-, 2006

      1 Y.-H. Lee, 87 : 172901-, 2005

      2 S. Gupta, 105 : 014101-, 2009

      3 J. Wang, 299 : 1719-, 2003

      4 S. U. Lee, 102 : 044107-, 2007

      5 M. Kumar, 100 : 074111-, 2006

      6 G. L. Yuan, 100 : 024109-, 2006

      7 X. Qi, 86 : 062903-, 2005

      8 V. R. Palkar, 80 : 1628-, 2002

      9 C. Wang, 99 : 054104-, 2006

      10 J. K. Kim, 88 : 132901-, 2006

      11 S. K. Singh, 91 : 112913-, 2007

      12 W. Eerenstein, 307 : 1203-, 2005

      13 K. Ueda, 75 : 555-, 1999

      14 C. Wang, 99 : 054104-, 2005

      15 R. D. Shannon, 32 : 751-, 1976

      16 M. K. Singh, 88 : 042907-, 2006

      17 Y. Yang, 103 : 093532-, 2008

      18 G. D. Hu, 91 : 232909-, 2007

      19 M. A. Lampert, 103 : 1648-, 1956

      20 Y. Wang, 103 : 114104-, 2008

      21 G. D. Hu, 92 : 192905-, 2008

      22 T. Nozaki, 39 : 1798-, 2010

      23 L. Hongria, 400 : 252-, 2007

      24 M. N. Iliev, 73 : 064302-, 2006

      25 H. K. Jo, 49 : 336-, 2009

      26 D. Do, 105 : 66-, 2009

      27 하태곤, "졸-겔 법으로 제조한 Cr이 3 mol% 치환된 Ba0.7Sr0.3TiO3 박막의 전기적 특성" 한국물리학회 52 (52): 339-344, 2006

      28 Eun Jin Choi, "Ferroelectric Properties of (La, Mn)-codoped BiFeO3 Thin Films Prepared by a Chemical Solution Deposition" 한국물리학회 51 (51): 138-142, 2007

      더보기

      동일학술지(권/호) 다른 논문

      분석정보

      View

      상세정보조회

      0

      Usage

      원문다운로드

      0

      대출신청

      0

      복사신청

      0

      EDDS신청

      0

      동일 주제 내 활용도 TOP

      더보기

      주제

      연도별 연구동향

      연도별 활용동향

      연관논문

      연구자 네트워크맵

      공동연구자 (7)

      유사연구자 (20) 활용도상위20명

      인용정보 인용지수 설명보기

      학술지 이력

      학술지 이력
      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      2023 평가예정 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가)
      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) KCI등재
      2016-09-05 학술지명변경 외국어명 : Sae Mulli(New Physics) -> New Physics: Sae Mulli KCI등재
      2015-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2007-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2003-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2002-01-01 평가 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) KCI등재후보
      1999-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
      더보기

      학술지 인용정보

      학술지 인용정보
      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.18 0.18 0.17
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.15 0.14 0.3 0.1
      더보기

      이 자료와 함께 이용한 RISS 자료

      나만을 위한 추천자료

      해외이동버튼