Baumann, Stefan; Renker, Matthias; Schoepf, U. Joseph; De Cecco, Carlo N.; Coenen, Adriaan; De Geer, Jakob; Kruk, Mariusz; Kim, Young-Hak; Albrecht, Moritz H.; Duguay, Taylor M.; Jacobs, Brian E.; Bayer, Richard R.; Litwin, Sheldon E.; Weiss, Christel; Ak