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2018년
eng
2156-342X
2156-3446
SCOPUS;SCIE
학술저널
IEEE transactions on terahertz science and technology
588-595 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Effects of Parasitic Source/Drain Junction Area on Terahertz Responsivity of MOSFET Detector
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