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      Degradation of electron irradiated MOS capacitors

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      • 저자
      • 발행기관
      • 학술지명
      • 권호사항
      • 발행연도

        1998년

      • 작성언어

        eng

      • 주제어
      • Print ISSN

        0026-2714

      • Online ISSN

        1872-941X

      • 등재정보

        SCI;SCIE;SCOPUS

      • 자료형태

        학술저널

      • 원정보자원

        MICROELECTRONICS RELIABILITY

      • 수록면

        227-234   [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]

      • 회의자료명

        Dielectrics in microelectronics

      • 회의명

        Workshop

      • 회의장소

        Toulouse; France

      • 회의날짜

        1998; Mar

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