http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O36905252
2000년
eng
0026-2714
1872-941X
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
MICROELECTRONICS RELIABILITY
1761-1766 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
Reliability of electron devices, failure physics and analysis
European symposium; 11th
Dresden, Germany
2000; Oct
0
상세조회0
다운로드
Overstress and Electrostatic Discharge in CMOS and BCD Integrated Circuits
Comparison of RF and DC life-test effects on GaAs power MESFETs