http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=O40521747
1996년
eng
1071-9032
2158-1029
학술저널
PROCEEDINGS OF THE IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES
33-38 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
0780327845; 0780327837; 07803278503
Microelectronic test structures; ICMTS 1996; 1996 IEEE international conference on microelectronic test structures
International conference
Trento; Italy
1996; Mar
0
상세조회0
다운로드
A Test Structure for Monitoring Micro-Loading Effect of MOSFET Gate Length
Hybrid Optical-Electrical Overlay Test Structure
Narrow Width Effects in CMOS n(p)-well Resistors
Matching of MOS Transistors with Different Layout Styles