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Study on the electrical properties and the effect of heat treatment on structure of Ge-Se-Te alloys
Fayek, S.A. ELSEVIER 2000 p.95-102
Thickness-dependent properties of chemically deposited CdSe thin films
Kale, S.S. ELSEVIER 2000 p.103-108
Development of a complex heat resistant hard coating based on (Ta,Si)N by reactive sputtering
Nah, J.W. ELSEVIER 2000 p.115-121
Improvement of the spin-polarized self-consistent-charge extended Huckel tight-binding method
Kitamura, M. ELSEVIER 2000 p.122-130
Tetravalent ions substitution in Cu - ferrite; structure formation and electrical properties
Mazen, S.A. ELSEVIER 2000 p.131-138
Infrared absorption and dielectric properties of Li-Cu ferrite
Mazen, S.A. ELSEVIER 2000 p.139-147
Lai, L.-J. ELSEVIER 2000 p.148-152
The effects of microcrystalline silicon film structure on low-high-low band-gap thin film transistor
Chang, C.-Y. ELSEVIER 2000 p.153-157
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