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Plasma diagnostics by laser spectroscopic electric field measurement
Czarnetzki, U.; Luggenholscher, D.; Kadetov, V. A.; Dobele, H. F. Blackwell Science; 1999 2005 p.345-358
Three-dimensional modeling of inductively coupled plasma torches
Bernardi, D.; Colombo, V.; Ghedini, E.; Mentrelli, A. Blackwell Science; 1999 2005 p.359-372
Laminar plasma jets: Generation, characterization, and applications for materials surface processing
Pan, W. X.; Li, G.; Meng, X.; Ma, W.; Wu, C. K. Blackwell Science; 1999 2005 p.373-378
Exploration of the deposition limits of microcrystalline silicon
Mataras, D. Blackwell Science; 1999 2005 p.379-390
Takenaka, K.; Shiratani, M.; Takeshita, M.; Kita, M.; Koga, K.; Watanabe, Y. Blackwell Science; 1999 2005 p.391-398
Deposition mechanism of nanostructured thin films from tetrafluoroethylene glow discharges
Milella, A.; Palumbo, F.; Favia, P.; Cicala, G.; d Agostino, R. Blackwell Science; 1999 2005 p.399-414
Complex (dusty) plasmas: Examples for applications and observation of magnetron-induced phenomena
Kersten, H.; Thieme, G.; Frohlich, M.; Bojic, D.; Tung, D. H.; Quaas, M.; Wulff, H.; Hippler, R. Blackwell Science; 1999 2005 p.415-428
Three-dimensional transition map of flattening behavior in the thermal spray process
Fukumoto, M.; Shiiba, M.; Kaji, H.; Yasui, T. Blackwell Science; 1999 2005 p.429-442
Diagnostics for advanced materials processing by plasma spraying
Moreau, C.; Bisson, J.-F.; Lima, R. S.; Marple, B. R. Blackwell Science; 1999 2005 p.443-462
Robert, E.; Sarroukh, H.; Cachoncinlle, C.; Viladrosa, R.; Hochet, V.; Eddaoui, S.; Pouvesle, J. M. Blackwell Science; 1999 2005 p.463-474
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