샆스와 미세 구조 및 화학적 특성 = XAFS and Local Structural and Chemical Properties

국문 초록 (Abstract)

페르미 황금률을 (Fermi Golden rule) 이용하여 물질 내 선택된 특정 원소 주위 구조 및 화학적 특성을 결정하는 기법이 샆스 (XAFS, X-ray absorption fine structure) 이다. 샆스는 엑스선의 흡수 특성을 이용하기 때문에 시료의 상태 (고체, 액체, 기체)나, 결정도 (결정체, 비정질), 그리고 형태 (필름, 포일, 가루, 혼합물)와 무관하게 적용 가능하다. 샆스 분석을 통하여 물질을 구성하고 있는 원소의 종류와, 특정 원소의 산화수 및 그 원소 주위의 한곳 구조 특성 (local structural properties)을 결정할 수 있다. 샆스는 매우 폭넓게 다양한 혼합물의 특성을 연구하는데 활용될 수 있지만, 측정된 샆스 데이터로부터 결정적인 정보를 얻기 위하여 매우 정교하고 올바른 측정 및 분석과 절차가 필요하다. 본 논문에서는 샆스 측정을 통하여 정량적으로 한곳 구조 및 화학적인 특성을 결정하는 방법을 체계적으로 논의하였다.

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

XAFS (X-ray absorption fine structure) that is based on the Fermi Golden rule is a local probe to determine local structural and chemical properties around a selected element in a material. XAFS can determine types of atoms, chemical valence states, and local structural properties regardless of phase (solid, liquid, gas),crystanillity (crystal, amorphous), or shape (film, foil, powder,compound). XAFS can be widely used to study various compounds.
However, a precise analysis is required to obtain critical information from XAFS. We systematically discussed how to determine local structural and chemical properties from XAFS.

참고문헌 (Reference)

1 W. H. McMaster, Lawrence Livermore National Laboratory 1969

2 E. A. Stern, 190 : 012053-, 2009

3 D. E. Sayers, 27 : 1204-, 1971

4 J. J. Rehr, 72 : 621-, 2000

5 S.-W. Han, 3 : 396-, 2006

6 J.-S. Jeon, 49 : 031105-, 2010

7 M. Newville, 47 : 14126-, 1993

8 E. A. Stern, 208 & 209 : 117-, 1995

9 M. Newville, 8 : 322-, 2001

10 C. H. Booth, T115 : 202-, 2005

11 M. O. Krause, 8 : 307-, 1979

12 S.-W. Han, 86 : 21917-, 2005

13 A. L. Ankudinov, 58 : 7565-, 1998

14 S.-W. Han, 66 : 094101-, 2002

15 E.-S. Jeong, 23 : 175402-, 2011

16 Y. Joly, 63 : 125120-, 2001

17 C. R. Randall, 34 : 1036-, 1995

18 N. Jiang, 76 : 214117-, 2007

19 F. de Groot, 21 : 104207-, 2004

20 E. T. Westre, 119 : 6297-, 1997

21 S.-Y. Seo, 25 : 256005-, 2013

22 S.-W. Han, "Nanoscience and Technology, Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Devices, Chap. 7" 2012

23 "Further information can be found"