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Relativistic K shell decay rates and fluorescence yields for Zn, Cd and Hg
Casteleiro, C.; Parente, F.; Indelicato, P.; Marques, J. P. Springer Science + Business Media 2010 p.1-6
On the four-photon annihilation of the electron-positron pairs
Frolov, A. M.; Wardlaw, D. M. Springer Science + Business Media 2010 p.7-16
Asymmetry and speed-dependent effects on the 748.8 nm self-broadened neon line
Urbanowicz, A.; Bielski, A.; Lisak, D.; Ciuryło, R.; Trawiński, R. S. Springer Science + Business Media 2010 p.17-25
Landau description for an atomic screened system: the charge symmetry breaking effect
Penna, A. L.; Diniz, J. B.; Oliveira, F. A. Springer Science + Business Media 2010 p.27-31
Thermal properties of AlN-based atom chips
Armijo, J.; Garrido Alzar, C. L.; Bouchoule, I. Springer Science + Business Media 2010 p.33-39
Impact-parameter-dependent electronic stopping of swift ions
Schinner, A.; Sigmund, P. Springer Science + Business Media 2010 p.41-50
Impact-parameter-dependent stopping of swift ions
Sigmund, P.; Schinner, A. Springer Science + Business Media 2010 p.51-60
Riahi, R.; Teulet, P.; Ben Lakhdar, Z.; Gleizes, A. Springer Science + Business Media 2010 p.61-66
Riahi, R.; Teulet, P.; Jaïdane, N.; Gleizes, A. Springer Science + Business Media 2010 p.67-72
El-Shamy, E. F. Springer Science + Business Media 2010 p.73-77
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