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2014년
eng
0137-1339
SCIE;SCOPUS
학술저널
MATERIALS SCIENCE -WROCLAW-
188-192 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Analysis of electromigration phenomenon in thick-film and LTCC structures at elevated temperature
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