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예시)

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ⅰ ⅱ ⅲ ⅳ ⅴ ⅵ ⅶ ⅷ ⅸ ⅹ Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ Ⅵ Ⅶ Ⅷ Ⅸ Ⅹ

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저자

Tsai, H. C.
발행기관

Elsevier Science B.V., Amsterdam.
학술지명
Microelectronics and reliability
권호사항

Vol.48 No.4 [2008]
발행연도
2008년
작성언어
eng
Print ISSN
0026-2714
Online ISSN
1872-941X
등재정보
SCI;SCIE;SCOPUS
자료형태
학술저널
원정보자원
MICROELECTRONICS RELIABILITY
수록면
537-546 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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