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2000년
-
0039-6028
1879-2758
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
SURFACE SCIENCE -AMSTERDAM-
239-246 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
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Fundamental processes of microcrystalline silicon film growth: a molecular dynamics study
XPS, LEED and STM study of thin oxide films formed on Cr(110)