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1995년
eng
0094-243X
1551-7616
학술저널
AIP CONFERENCE PROCEEDINGS
3-19 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
1563964392
Stress-induced phenomena in metallization
International workshop; 3rd
Palo Alto; CA
1995; Jun
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Investigation of Stresses in Passivated Gold Lines
Plastic Deformation and Stress-Induced Voiding in Al-Cu Interconnects
Stress Relaxation and Microstructural Change in Passivated Al(Cu) Lines During Isothermal Annealing
Electrical Measurement of Stress-Induced Void Growth