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      화학용액 증착법으로 제조한 Bi0.9A0.1Fe0.975V0.025O3+α (A=Nd, Tb) 박막의 구조와 전기적 특성 = Microstructural and Electrical Properties of Bi0.9A0.1Fe0.975V0.025O3+α (A=Nd, Tb) Thin Films by Chemical Solution Deposition Method

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      We have evaluated the ferroelectric and electrical properties of pure BiFeO3 (BFO) and Bi0.9A0.1Fe0.975V0.025O3+α(A=Nd, Tb) thin films on Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100) substrates by using a chemical solution deposition method. The remnant polarization (2P...

      We have evaluated the ferroelectric and electrical properties of pure BiFeO3 (BFO) and Bi0.9A0.1Fe0.975V0.025O3+α(A=Nd, Tb) thin films on Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100) substrates by using a chemical solution deposition method.
      The remnant polarization (2Pr) of the Bi0.9Tb0.1Fe0.975V0.025O3+α (BTFVO) thin film was approximately 65 μC/cm2,with a maximum applied electric field of 950 kV/cm and a frequency of 10 kHz, where as that of theBi0.9Nd0.1Fe0.975V0.025O3+α (BNFVO) thin film was approximately 37 μC/cm2 with a maximum applied electric field of910 kV/cm. The leakage current density of the co-doped BNFVO thin film was four orders of magnitude lowerthan that of the pure BFO thin film, at 2.75×10-7 A/cm2 with an applied electric field of 100 kV/cm. The grainsize and uniformity of the co-doped BNFVO and BTFVO thin films were improved, in comparison to the pureBFO thin film, through structural modificationsdue to the co-doping with Nd and Tb.

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      국문 초록 (Abstract)

      화학 용액 증착법으로 순수한 BiFeO3 (BFO) 박막과 Bi0.9Nd0.1Fe0.975V0.025O3+α(BNFVO), Bi0.9Tb0.1Fe0.975V0.025O3+α (BTFVO) 박막을 Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100) 기판 위에 증착하였다. Nd, Tb와 V을 동시 도핑된 BNFVO 박막과 ...

      화학 용액 증착법으로 순수한 BiFeO3 (BFO) 박막과 Bi0.9Nd0.1Fe0.975V0.025O3+α(BNFVO), Bi0.9Tb0.1Fe0.975V0.025O3+α (BTFVO) 박막을 Pt(111)/Ti/SiO2/Si(100) 기판 위에 증착하였다. Nd, Tb와 V을 동시 도핑된 BNFVO 박막과 BTFVO 박막의 전기적 특성이 순수한 BFO 박막에 비해서 크게 향상되었다. BNFVO 박막에 최대 전압 910 kV/cm를 인가하였을 때, 1 kHz에서 측정된 잔류 분극(2Pr)과 항전기장(2Ec)은 37 μC/cm2, 748 kV/cm 이었고, BTFVO 박막에 최대 전압 950 kV/cm를 인가하였을 때, 잔류 분극(2Pr)과 항전기장(2Ec)은  65μC/cm2, 537 kV/cm 였다. 또한 순수한 BFO 박막과 BNFVO, BTFVO 박막의 누설 전류밀도는 인가된 전기장이 100 kV/cm 일 때 1.58 x 10–3 A/cm2, 2.75 x 10–7 A/cm2, 그리고 2.03 x 10–5 A/cm2을 각각 보였다. BNFVO 박막의 경우 순수한 BFO 박막보다 4승 작은 양호한 특성을 보였다. Nd, Tb 그리고 V이 동시 도핑된 BNFVO 박막과 BTFVO 박막의 구조 변화에 의해서 그레인 크기와 균일성이 순수한 BFO 빅막에 비해서 개선되었다

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      참고문헌 (Reference)

      1 B. Yu, 41 : 185401-, 2008

      2 Z. Hu, 42 : 185010-, 2009

      3 B. Yu, 41 : 065003-, 2008

      4 Jin Won Kim, "V-doping effects on ferroelectric properties of K0.5Bi4.5Ti4O15 thin films" Elsevier BV 518 (518): 6514-6517, 2010

      5 W. Prellier, "The Single-Phase Multiferroic Oxides: From Bulk to Thin Film" Wiley 37 (37): 2006

      6 Sverre M. Selbach, "The Ferroic Phase Transitions of BiFeO 3" Wiley 20 (20): 3692-3696, 2008

      7 R. D. Shannon, "Revised effective ionic radii and systematic studies of interatomic distances in halides and chalcogenides" International Union of Crystallography (IUCr) 32 (32): 751-767, 1976

      8 C. M. Raghavan, "Preparation and properties of rare earth (Eu, Tb, Ho) and transition metal (Co) co-doped BiFeO3 thin films" Springer Nature 64 (64): 178-183, 2012

      9 Manoj K. Singh, "Polarized Raman scattering of multiferroic BiFeO3 epitaxial films with rhombohedral R3c symmetry" AIP Publishing 88 (88): 042907-, 2006

      10 I. Vrejoiu, "Intrinsic Ferroelectric Properties of Strained Tetragonal PbZr0.2Ti0.8O3 Obtained on Layer–by–Layer Grown, Defect–Free Single–Crystalline Films" Wiley 18 (18): 1657-1661, 2006

      1 B. Yu, 41 : 185401-, 2008

      2 Z. Hu, 42 : 185010-, 2009

      3 B. Yu, 41 : 065003-, 2008

      4 Jin Won Kim, "V-doping effects on ferroelectric properties of K0.5Bi4.5Ti4O15 thin films" Elsevier BV 518 (518): 6514-6517, 2010

      5 W. Prellier, "The Single-Phase Multiferroic Oxides: From Bulk to Thin Film" Wiley 37 (37): 2006

      6 Sverre M. Selbach, "The Ferroic Phase Transitions of BiFeO 3" Wiley 20 (20): 3692-3696, 2008

      7 R. D. Shannon, "Revised effective ionic radii and systematic studies of interatomic distances in halides and chalcogenides" International Union of Crystallography (IUCr) 32 (32): 751-767, 1976

      8 C. M. Raghavan, "Preparation and properties of rare earth (Eu, Tb, Ho) and transition metal (Co) co-doped BiFeO3 thin films" Springer Nature 64 (64): 178-183, 2012

      9 Manoj K. Singh, "Polarized Raman scattering of multiferroic BiFeO3 epitaxial films with rhombohedral R3c symmetry" AIP Publishing 88 (88): 042907-, 2006

      10 I. Vrejoiu, "Intrinsic Ferroelectric Properties of Strained Tetragonal PbZr0.2Ti0.8O3 Obtained on Layer–by–Layer Grown, Defect–Free Single–Crystalline Films" Wiley 18 (18): 1657-1661, 2006

      11 Xiaoding Qi, "Greatly reduced leakage current and conduction mechanism in aliovalent-ion-doped BiFeO3" AIP Publishing 86 (86): 062903-, 2005

      12 T. Zhao, "Electrical control of antiferromagnetic domains in multiferroic BiFeO3 films at room temperature" Springer Nature 5 (5): 823-829, 2006

      13 M. Muneeswaran, "Effect of Tb substitution on structural, optical, electrical and magnetic properties of BiFeO3" Springer Nature 26 (26): 3827-3839, 2015

      14 Dillip K. Pradhan, "Effect of Mn substitution on electrical and magnetic properties of Bi0.9La0.1FeO3" AIP Publishing 106 (106): 024102-, 2009

      15 Takeshi Kawae, "Composition Dependence in BiFeO 3 Film Capacitor with Suppressed Leakage Current by Nd and Mn Cosubstitution and Their Ferroelectric Properties" Japan Society of Applied Physics 47 (47): 7586-7589, 2008

      16 L.W. Martin, "Advances in the growth and characterization of magnetic, ferroelectric, and multiferroic oxide thin films" Elsevier BV 68 (68): 89-133, 2010

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      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2006-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
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      2001-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
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      2016 0.13 0.13 0.13
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