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Projective reconstruction of ellipses from multiple images
Mai, F.; Hung, Y.S.; Chesi, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.545-556
Ris, M.; Barrera, J.; Martins, D.C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.557-568
Parametric estimation of affine deformations of planar shapes
Domokos, C.; Kato, Z. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.569-578
Invariant pattern recognition using contourlets and AdaBoost
Chen, G.Y.; Kegl, B. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.579-583
Optimal feature selection for support vector machines
Nguyen, M.H.; de la Torre, F. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.584-591
Barnes, N.; Loy, G.; Shaw, D. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.592-602
An efficient local Chan-Vese model for image segmentation
Wang, X.-F.; Huang, D.-S.; Xu, H. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.603-618
Arevalillo-Herraez, M.; Ferri, F.J.; Domingo, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.619-629
Automated flexion crease identification using internal image seams
Cook, T.; Sutton, R.; Buckley, K. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.630-635
Image replica detection system utilizing R-trees and linear discriminant analysis
Nikolopoulos, S.; Zafeiriou, S.; Nikolaidis, N.; Pitas, I. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2010 p.636-649
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