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1995년
dut
0167-9317
1873-5568
SCI;SCIE;SCOPUS
학술저널
MICROELECTRONIC ENGINEERING
25-32 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
Electron and optical beam testing of electronic devices
European conference; 5th
Wuppertal; Germany
1995; Aug
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Beam testing of the electrical field in semiconductor devices
Electron and optical beam testing of integrated circuits using CIVA, LIVA, and LECIVA
Locating radiation sensitive zones of integrated circuits using an ion-microprobe