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Measurements in Nanometer Scale - Difficulties in the Technology -
Hatsuzawa, T. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.335-337
Standards and Their International Comparisons on Nanometrology
Kurosawa, T. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.338-341
Inspection and Measurement of ULSI Pattern by Electron-beam System
Nakayama, Y. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.342-344
Metrological Scanning Probe Microscope Systems in National Metrology Institutes
Misumi, I.; Gonda, S. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.345-348
Preparation and Characterization of Thin Films
Fujimoto, T.; Kojima, I. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.353-356
Nano-3D Coordinate Measurement for Micro-parts
Takaya, Y. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.357-360
Ultrahigh Accurate 3-D Profilometer using Atomic Force Probe Measure Nanometer
Yoshizumi, K.; Kubo, K.; Takeuchi, H.; Handa, K.; Kassai, T. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.361-366
Nano-metrology of Large Surface Profiles using Angle Sensors
Gao, W. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.367-371
Regular Crystalline Lattice Scale-Current Status and Tasks
Aketagawa, M.; Takada, K. JAP SOC PRESISION ENG 2002 p.372-376
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
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