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1993년
eng
0304-3886
1873-5738
SCIE;SCOPUS
학술저널
JOURNAL OF ELECTROSTATICS
91-110 [※수록면이 p5 이하이면, Review, Columns, Editor's Note, Abstract 등일 경우가 있습니다.]
1878303341
Electrical overstress/electrostatic discharge
Symposium
Dallas; TX
1992; Sep
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A newly observed high frequency effect on the ESD protection utilized in a gigahertz NMOS technology
ESD induced gate oxide damage during wafer fabrication process