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RISS 인기검색어
X-parameters : characterization, modeling, and design of nonlinear RF and microwave components
한글로보기https://www.riss.kr/link?id=M13597149
- 저자
-
발행사항
Cambridge, United Kingdom: Cambridge University Press, 2013
-
발행연도
2013
-
작성언어
영어
- 주제어
-
DDC
621.3841/2 판사항(22)
-
ISBN
9780521193238 (hardback):
0521193230 (hardback) -
자료형태
단행본(다권본)
-
발행국(도시)
England
-
서명/저자사항
X-parameters: characterization, modeling, and design of nonlinear RF and microwave components / David E. Root, Agilent Technologies Inc., Jan Verspecht, Agilent Technologies Inc., Jason Horn, Agilent Technologies Inc., Mihai Marcu, Agilent Technologies Inc.
-
형태사항
xi, 219 p.: illus.; 26 cm.
-
총서사항
The Cambridge RF and microwave engineering series
-
일반주기명
Includes bibliographical references.
Machine generated contents note: 1. S-parameters; 2. X-parameters; 3. Small-signal sensitivities in the X-parameters; 4. X-parameter measurements; 5. Multi-tone multi-port X-parameters; 6. Memory. -
소장기관
- 경기대학교 중앙도서관(수원캠퍼스)
- 국민대학교 성곡도서관
- 단국대학교 퇴계기념도서관(중앙도서관)
- 부산대학교 중앙도서관
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목차 (Table of Contents)
- 자료제공 :
- 1. S-parameters; 2. X-parameters; 3. Small-signal sensitivities in the X-parameters; 4. X-parameter measurements; 5. Multi-tone multi-port X-parameters; 6. Memory.
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책소개
자료제공 : 
X-Parameters: Characterization, Modeling, and Design of Nonlinear RF and Microwave Components (Characterization, Modeling, and Design of Nonlinear RF and Microwave Components)
The definitive guide to X-parameters, written by the original inventors and developers of this powerful new paradigm, and containing real-world case studies, definitions, detailed derivations and exercises with solutions. An essential reference for researchers, engineers, scientists and students looking to remain on the cutting-edge of nonlinear RF and microwave engineering.
분석정보
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