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Perspectives on giga-bit scaled DRAM technology generation
Kim, K. Pergamon; 1999 2000 p.191-206
Degradation mechanisms in polysilicon emitter bipolar junction transistors for digital applications
Vendrame, L. Pergamon; 1999 2000 p.207-230
Solder joint fatigue models: review and applicability to chip scale packages
Lee, W. W. Pergamon; 1999 2000 p.231-244
A simple VLSI spherical particle-induced fault simulator: application to DRAM production process
Nakamae, K. Pergamon; 1999 2000 p.245-253
Fault model for sub-micron CMOS ULSI circuits reliability assessment
Lisenker, B. Pergamon; 1999 2000 p.255-265
The influence of stud bumping stress on device degradation in scaled MOSFETs
Shimoyama, N. Pergamon; 1999 2000 p.267-275
Yang, B. L. Pergamon; 1999 2000 p.277-281
Analysis of Fowler-Nordheim injection in NO nitrided gate oxide grown on n-type 4H-SiC
Li, H. F. Pergamon; 1999 2000 p.283-286
Effect of drain voltage on channel temperature and reliability of pseudomorphic InP-based HEMTs
Dammann, M. Pergamon; 1999 2000 p.287-291
Method for assessing remaining life in electronic assemblies
McCluskey, F. P. Pergamon; 1999 2000 p.293-306
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